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隐藏支付积分如何通过DFMA®实现DFX
提起制造业，这是值得我们每一个国人骄傲的存在，中国制造已经足够傲视全球，更可喜的是，现在制造业也在逐渐转型，由中国制造向中国创造转变。然而转型的难度并不低，我们面临着较以前更大的挑战：客户要求产品价格更低、产品质量更高、货周期更短。这一时期如何更快地去设计更多功能、更小体积、性价比更高、能够最大程度满足客户需求的产品成为各大企业追求的目标。固定的思维模式往往让我们的设计人员思维受到局限…...- 0
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基于失效物理的可靠性理论基础
失效物理是一门以产品的失效为对象、系统地研究和诠释各类产品的失效机理、量化地描述与之相关联的物理化学过程和规律的科学。产品的失效同时具有在整体上的“确定性” 和个体之间的“分散性”两种特性，失效物理的研究旨在明确和建立这两种产品失效特性与产品的设计、材料、制造工艺和过程之间所存在的必然联系，它因此构成了在此之上所建立的可靠性工程方法的理论基础。 &l…...- 0
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电子元器件可靠性
新公司用的物料绝大部分是国产化物料，可靠性方面没大厂做的好，失效率会高很多，一旦发生异常索赔金额会很高，我们跟供应商双输。如何确认物料的长期可靠性呢？简单的办法是做大量测试，对物料进行测试承认，缺点费时间费钱。新公司从未有次规划，需要建立相应机制方法，不仅仅只是提高标准将风险转移给供应商，而是需要能在早期识别并有效能降低风险，后续有思路了在写吧...- 0
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请问元件类似STM32的失效概率怎么查表？
最近在写硕士毕业论文，做了一个设备的嵌入式控制系统，包括硬件的PCB和固件的编写。现在想在论文增加嵌入式系统软硬件的可靠性分析。其中里面的硬件同时有国产和进口器件，在查元件失效概率的时候这些器件都可以同时用GJBZ299C-2006手册吗？还是可以GJBZ299C-2006和SR-332手册结合使用？另外如网络PHY芯片和STM32 MCU等半导体微控制器貌似要使用内部晶体管的数量级别来确定其失效…...- 0
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请问关于抽取Ea激活能使用三温法时的数量要求。
RT，在确定激光二极管的Ea激活能时，请问要如何确定最低数量要求呢？我看到JEP188的推荐值是50个器件，但没有给出最小值。...- 0
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电子产品的PHM可以怎么做？
近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年9月25日如期完成了第九个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。【答疑活动问题九】 电子产品的PHM可以怎么做？（一般机械产品会有较为确定的裂纹扩展、磨损等退化规律，但电子产品的退化规律不明显） PHM中的预兆单元方法（即提前在产品内设置预警单元的方法），需要在产品设计之初，就要预留预警单元，那如未提前设置预警单元，能否无损、离线的测试产品上铝电…...- 0
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299C元器件预计手册
欢迎关注微信公众号：可靠性的边界。近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年9月18日如期完成了第八个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。【答疑活动问题八】 299C元器件预计手册数据有些落后，那目前推进国产化器件进程中，国产化器件的设计参数参考哪些数据？PS：这个是设想的一个讨论话题。背景是海军设备正在要求100%国产化，目前的部件级别的可靠性指标都在几万小时左右，并未有很好的手段去…...- 0
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关于SR332何时使用早期寿命失效率问题
在SR332 issue3标准中，计算失效率有两种，一种是计算早期失效率，一种是计算稳态失效率，那何时使用早期寿命失效率，何时使用稳态故障率呢？谢谢！...- 0
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军用元器件寿命与可靠性
近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年9月11日如期完成了第七个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。欢迎关注微信公众号：可靠性的边界，发现更多技术文章！ 【答疑活动问题七】 1、长寿命军用元器件如何选型，在元器件筛选过程中都考虑哪些方面，采用什么手段，确保其长期运行的可靠性？ 2、如何验证军品器件的寿命，越具体越好。如果采用加速寿命试验评估寿命的话，评估的是正常使用环境下的寿命吗？…...- 0
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盐雾试验与实际时间的思考
近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年9月4日如期完成了第六个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。欢迎关注微信公众号：可靠性的边界，发现更多的推文！ 【答疑活动问题六】 盐雾测试时间对标产品耐腐蚀寿命现在是否有最新研究？ 【会员交流讨论主要情况】何会员： 定量判断的话就是腐蚀导致的质量损失以及腐蚀深度，定性判断主要看是否有腐蚀痕迹，比如锈迹或腐蚀斑点作为判断依据。某车厂对材料耐腐蚀…...- 0
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可靠性预计手册到底有什么用？
近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年8月21日如期完成了第四个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。欢迎关注微信公众号：可靠性的边界，发现更多的推文！【答疑活动问题四】可靠性预计手册到底有什么用？【会员交流讨论主要情况】湛会员：基本没用，原因是产品工艺和设计都在更新换代，而且一类器件的设计都千差万别。所以，通过可靠性预计手册预计出的结果和实际相比相差太远。举个例子，同一款芯片，两个…...- 0
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元器件封装中的失效/可靠性问题
电子器件是一个非常复杂的系统，其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此，研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解，这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。封装的失效机理可以分为两类：过应力和磨损。过应力失效往往是瞬时的、灾难性的；磨损失效是长期的累积损坏，往往首先表示为性能退化，接着才是器件失效。失效的负载类型又可以分为机械、热、电气、辐射和化学负载等。影响封装缺陷和失效的因素是多种多…...- 0
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航天电子元器件在各类环境中的失效模式及机理
本文对航天电子元器件的失效模式及失效机理进行了研究，并给出其敏感环境，对于电子产品的设计提供一定的参考1 典型元器件失效模式为获取电子元器件的敏感环境，对其环境相关典型故障模式进行分析，如表2所示。表1 电子元器件环境相关失效模式及所涉及敏感环境分析序号电子元器件名称环境相关故障模式环境应力1机电元件振动导致线圈疲劳折断，电缆松动。振动、冲击2半导体微波器件高温、温度冲击导致塑封微波单片…...- 0
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工作周期因子概念-定义，误区以及阐述
10月21日孙凤斌博士在可靠性应用技术微课堂上给大家上了一个关于工作周期因子的微课，听了很有感触，特别对他的微课进行了解读，希望没有时间听的朋友也能够了解。 有幸再次能够听到孙博士的课，这次是第三次了。这次的题目是“可靠性工程中的工作周期因子概念-定义、误区、以及阐释”。工作周期的确是可靠性的基本，正如可靠性定义里面讲到的 –在一定的工作时间和条件下的可靠性。其实就是和工作周期…...- 0
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高温带电老化，电流密度的影响（电压基本不变）
做探测器芯片，高温带电老化，一般的10G APD 光敏面φ30um，条件是175℃，100uA的电流，现在做大光敏面的APD 光敏面φ400um，如果再只供一个100uA的电流（100uA的电流得到的电压都是产品本身的正常工作电压），那么他的电流密度就小了100多倍（此时使用该老化条件是否已经达不到原有作用），但是因为是雪崩二极管，所以正常工作电压=击穿电压，此时电流增大电压变化值非常小，但是如果…...- 0
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