请教如何对摄像头建立加速实验模型？

我们摄像头产品，有光学件（如玻璃）、塑料、电子器件、芯片和线路板等组成。现客户提出的可靠性实验要求周期非常长，用典型的加速寿命模型去反算产品寿命，远远长于产品的应用场景。同客户沟通，想按加速寿命模型推算的合理时间进行试验，客户说模型不适用，你们就按我们的要求来。请问大咖有否建议给我，谢谢！