stan2007
发表于 2011-11-2 11:43:17
建议温度选取点以产品的高低温为起点,高温10度步进,低温-5度步进。
首先你要了解你的产品的每个器件或者模块、PCB板的失效机理,不能超过其本生的极限值,并保留一定的余量即可。
比如某个器件的使用温度范围为-20~100,HALT试验时做超过100就没有一点意义了,我们一般做到80~90%的极限值。
1050059
发表于 2011-11-2 19:34:07
回复11#stan2007
有没有文件可依?
stan2007
发表于 2011-11-2 22:25:25
关于公司信息安全,不方便提供
rzq200
发表于 2011-11-3 16:01:15
halt试验的目的其实就是找缺陷,只是现在的试验理论和试验设备所限都是使用温度、振动应力来作,实际上halt试验只是一个思想和方法,个人认为不一定只局限这几个应力,当然如果用其他应力则需要之前将故障机理搞清楚才行。
具体试验中怎么去选择,则是观念的问题,本来halt试验提出时就是在设计阶段,所以目的只是发现问题,所以可以根据发现问题的多少,产品对不同应力敏感程度来确定试验步骤,如果把它和环境适应性试验搞混淆了的话确实很难选择
walkman123
发表于 2011-12-6 08:36:26
我们公司也要做HALT试验,了解了一下,好像要有一个试验方案,但不知道如何设计这个试验方案,盼高手指点。
另外,楼主说的资料,可以看一下--高加速寿命试验和高加速应力筛选技术
或许可以了解的更多一点
中天检测
发表于 2011-12-25 01:24:40
感谢分享这个HALT试验资料
aomareliability
发表于 2012-1-29 14:49:02
任何加速试验的基本原则是:
高应力+短时间的失效模式=低应力+长时间的失效模式,否则就没有意义。
frankabc
发表于 2012-2-3 16:55:10
谢谢共享资料!
wlbvine123
发表于 2012-2-7 16:25:06
感谢分享这个HALT试验资料
david6404
发表于 2012-3-23 11:31:06
好资料,有没有其他试验室的资料