gcsdream
发表于 2012-3-4 03:45:34
围观
tiny_na
发表于 2012-3-4 10:31:17
感觉还是要通过验证了解一下真正的失效率数据，通过客服反馈的失效率只能作为参考吧？
edyd
发表于 2012-3-6 16:50:26
建议你们把失效数据拿回来分析下吧。
闲情
发表于 2012-3-7 13:50:31
先做失效解剖分析,找出失效原因再做改进.
geshwester
发表于 2012-3-7 16:43:18
看了大家的讨论，好像悟到了点。
frankabc
发表于 2012-3-20 12:53:49
这个目标不是很高吧，一般几百ppm吧。
forsomething
发表于 2012-3-20 19:17:12
看什么产品咯，IC的失效率可以做到很低啊。
总的来说，我认为低失效率是设计决定，设计多考虑可靠性的东西，例如做可靠性设计分析等，效果会好很多。
giant110
发表于 2012-3-23 20:01:54
试验主要是验证关键是设计一般基本元器件失效率是固定的如果预测和试验证明不能达到那就要改进设计比如降额设计冗余设计