lichangzheng 发表于 2012-6-5 20:28:58

请教一下，GJB299或者MIL-217f预计得到的失效率包含了早夭期的失效率没有啊？？

各位高手，帮忙解答一下疑问啊，根据GJB299或者MIL-217f预计得到的失效率包含了早夭期失效率没有啊？？急求解惑啊？？要是没有包含的话，那又为什么直接可以是预计偶然期间呢？？

ducklou 发表于 2012-6-6 08:39:17

不懂，关注中！

gdfrg 发表于 2012-6-6 09:16:51



貌似看不出什么有用的东西

admin 发表于 2012-6-6 21:50:38

没有早夭期失效率

panqunyang 发表于 2012-7-24 09:01:19

同意admin.不包括早夭期失效.这两个的理论依据都是指数分布.好像还是不计算辐射失效的.

maomao 发表于 2012-7-25 13:41:25

国家对这个失效率的更新还不是很快的。
这个失效率国外更新的快点!

wanhui.827 发表于 2012-10-10 09:47:12

:victory:

weijia0219 发表于 2012-10-30 11:02:47

要计算这个早夭期应该很复杂吧，这个不光给设计缺陷，器件选择有关；还和生产工艺，不同彼此的器件来料等有关，所以觉得早夭期是没办法建立模型的。

tmjgytgsw 发表于 2012-10-30 11:16:45

可以参考217Plus

scf0078 发表于 2012-10-31 12:55:49

我们用SR332的标准。有人关注SR332吗？
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