可靠性预计中遇到的问题
请教各位大虾,在可靠性预计中,预计IC的失效率时需要知道IC的门数和晶体管数,这个数据供应商也不会提供,怎么样能得到这个数据呢?:handshake 有一些是可以查出IC里面的管子数的,但是大部分没有,要查起来比较困难。我们在用的一个可靠性软件上,内置了一些器件的管子数,如果没用软件来做的话,那是有一定的难度的。。 那没有软件怎么办啊?没办法查到吗?那门数和晶体管数大概的范围可以查到吗? 没有软件,那是比较麻烦,肯定是没有什么大概范围可查的,建议你还是多找一下这些器件的资料,上一下器件的官方网站,详细的看看,或者留言询问一下也不错。 正好,我是用Relex软件做可靠性预计的,也有个问题想请教下:器件的等级是不是都选择commerical?P、X、U、M等等是代表哪个等级? 也不是所有都选commerical这主要是工业级的,比如军用级的就选mil-
pxum只是代表这个器件通过什么试验一样,前后好像是个包含关系。
详细查看一下军标吧,也记不太清了。
回复 #5 chenmanwen 的帖子
请问一下,买那个relex软件需要多少钱啊? 呵,好几十W吧。可以上www.ytforever.com看看,如果要买的话,可要说上是中国可靠性网cliffcrag推荐的哦。我们是他们的老客户了。 还想请教一下,可靠性预计做出来的数据该如何分析?比如,我用到的一个直插电感在系统中的的预计失效率是0.000097,而它所在的电源模块预计失效率是0.375935,这些数据是好还是不好?:) 呵,这个预计结果如何使用,那个是个大问题,一般相互之间相似的产品,或相似的器件进行比较,或许会有些意义。。个人理解。。欢迎大家抛砖!
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