答：1.产品使用期间会碰到。2.可以通过温度尽早暴露产品缺陷。
问：怎样根据使用期间的平台环境确定实验室测试曲线？
答：一.实际在平台上测量。二.根据寿命应力曲线。三.参考标准给出的。
问：OK高低温点可以确定，那暴露的时长呢？一个产品寿命可能很长时间。经历的温度也是随机的。不确定的。勉强得到一个寿命时间温度曲线。时间跨度也是以月记以年纪。如何在实验室环境下短时间内测试出结果，可以证明产品在长时间的寿命期内可以正常工作？才是我想请教的问题。标准上讲低温（高温）操作状态至少3个周期，存储7个周期。哪个电子产品温度测试会按照这个来操作？另外一个问题，有没有人制定温度测试时考虑过实验和欠实验的问题？哪些问题是你实验前觉得应该发生的？哪些是没考虑到而发生的。什么是温度因素引起的晶圆温漂？你的证据是什么？没有以上等等考虑，那我们做测试还有什么用？ 呼唤高人
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