可靠性网's Archiver
可靠性论坛(旧)
›
可靠性试验
› 请教:如何对毫欧级的元器件实现在温度箱中进行不同温度点的测试
tom_huang_yw
发表于 2012-12-16 18:34:40
请教:如何对毫欧级的元器件实现在温度箱中进行不同温度点的测试
各位楼主:
目前我们在评估元器件可靠性试验时,对于毫欧级的电阻参数(5-10毫欧,有的更低达到3毫欧),在各温度下测试的情况下,存在一定的难度,没法实现准确的测量,请教有类似经验的高手指教指教!
闲情
发表于 2012-12-17 11:24:34
需要用专门的毫欧级的电阻测量仪器。
页:
[1]
查看完整版本:
请教:如何对毫欧级的元器件实现在温度箱中进行不同温度点的测试