patty 发表于 2013-11-13 16:59:01

psunnyapple发表于2013-11-1310:26static/image/common/back.gif
常用参数值

Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊

yeh 发表于 2013-11-14 07:24:19

patty发表于2013-11-1308:22static/image/common/back.gif
请问此资料从何而来啊？

JESD22-A110

psunnyapple 发表于 2013-11-14 08:49:05

patty发表于2013-11-1316:59static/image/common/back.gif
Ea取0.6一般是电子产品的取值标准，但是我做的试验是薄膜电容啊

Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些情况也针适用于IC器件；而氧化物薄膜破坏，Ea取0.3ev。
可根据薄膜电容由85℃至105℃的失效机理来选取Ea值。
假如薄膜电容失效是由于氧化物薄膜破坏的话，取Ea=0.3ev，这也同你之前发帖“薄膜电容Ea值取多少”中别人的回复也比较吻合。
当然计算前提是根据你给的条件，就像是做计算题限制了条件一样；实际问题的解决方案未必如此。

jessiecarina 发表于 2013-11-14 16:23:33

好专业的说！

闲情 发表于 2013-11-15 11:51:18

psunnyapple发表于2013-11-1408:49static/image/common/back.gif
Ea根据不同原材料取值不同，一般情况下，由于电迁移而断线、铝腐蚀、金属间化合物生长，Ea可取0.6ev，这些...

对，失效机理是关键。

闲情 发表于 2013-11-15 12:07:13

本帖最后由闲情于2013-11-1512:35编辑

薄膜电容失效一般是引脚与薄膜间的连接部位被腐蚀，造成电容开路。
这样来看Ea取0.6ev也说得通。

闲情 发表于 2013-11-15 12:19:58


另外，看密封的环氧树脂开不开裂很关键。

sounnyday 发表于 2013-11-15 16:20:24

3楼大大的公式应该是引用JEDECJESDA-110标准的:)

Xyberry 发表于 2013-11-21 16:53:43

闲情发表于2013-11-1512:19static/image/common/back.gif
另外，看密封的环氧树脂开不开裂很关键。

回答的很到位~~

zz_hf013 发表于 2014-8-7 09:03:56

EA是有公式可以算出来的
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