关于可靠性试验样品数量的问题
本帖最后由keegan于2013-12-412:54编辑最近看JESD47时,了解到了可靠性试验数量计算的公式:
N>=0.5*X2(1-CL,2*f+2)*(1/LTPD-0.5)+C
**文档中的公式应该不对,卡方分布的参数颠倒顺序了
N为样品数量
X2为卡方分布
CL为置信度
LTPD为允许次品率
C为可接受的失效数
于是,文档中给出了下表(TableA):
之前我们的可靠性试验数量一般是3lots,每lot77颗,那我的问题是,按照此表,我们遵循的是LTPD=5,C=1的规范?也就是说我们的试验应该允许有1颗失效?
与此同时,我在此文档中看到另一个表(Table2):
此表中的几个试验的数量均为3lots/25units,请问这个样品量是哪里来的?
不知道我理解哪里有偏颇,请各位不各赐教。 不清楚为什么不能上传图片,有劳各位自己查一下JESD47了。 如果发不了图片,就把JESD47上传上来,那样看着也方便一点,否则还要再去找相关的标准~~~ kevin_whb发表于2013-12-411:12static/image/common/back.gif
如果发不了图片,就把JESD47上传上来,那样看着也方便一点,否则还要再去找相关的标准~~~
谢谢关注。已经上传JESD47I。 同意楼主的看法,看了原规范,确实把卡方分布的两个参数弄反了,应该前面是1-CL,后面是2C+2.楼主看的很细致 :)学习中:( 好东西,一起学习!!!! 谢谢分享~ 学习标准:victory: 谢谢楼主分享:victory::victory:
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