请问HTRB,HTGB,HTOL等试验是为了筛选用还是寿命评估？

icemc2008 · 发表于 2014-5-20 09:25:38

请大家帮忙分析：

这几个试验（HTRB，HTGB,HTOL,LTOL等）是用于筛选器件的早期失效呢？

还有通过加速手段能评估出器件在正常工作环境下的使用寿命？

谢谢！

icemc2008 · 发表于 2014-5-21 09:01:35

有人吗？

wu8295 · 发表于 2014-5-21 10:50:44

主要是针对不同失效机理的加速试验，对使用寿命的评估，所以时间上比较长。
筛选器件的早期失效的试验，且一般测试时间不会太长。

cheng10_xu · 发表于 2014-5-23 09:44:09

你提到的这几个试验都是寿命试验，不是筛选器件的早期失效。
筛选早期失效多用于IC，比如存储器等。
不同的应力条件对应不同的加速模型，最后计算出来的寿命有一定的参考价值，但不等效于寿命。

yayalekid · 发表于 2014-8-5 16:57:10

关于htol的标准是什么呢？

stevelyang · 发表于 2017-9-22 03:44:39

HTOL is applied to assess the quality and reliability for the devices, In general, it is a accelerated testing.
It can be used to predict the life time at critical failure rate level ( if a acceleration model is available).

yanru0216 · 发表于 2017-11-22 16:58:18

stevelyang 发表于 2017-9-22 03:44
HTOL is applied to assess the quality and reliability for the devices, In general, it is a accelerat ...

請問HTOL 是正常最大操作電壓去做125度(也是可以使用工作範圍溫度), 這樣做1000HR也算是加速實驗嗎??

		自动登录	找回密码
密码			-注册-

请问HTRB,HTGB,HTOL等试验是为了筛选用还是寿命评估？

浏览过的版块