lxwacn 发表于 2014-7-14 14:46:45

请教可靠性测试的问题

1、在很多电子产品中都采用IEC68的系列测试标准，比如高温存储70度24小时，高温运行65度48小时，这里的测试时间24小时或者48小时，有没有什么依据，为什么要测试这么长时间呢，和产品的使用寿命有没有什么关系？
2、一个电子产品，要验证10年的寿命，有没相关的测试验证标准？
谢谢！

ciomp_achilles 发表于 2014-7-14 22:28:02

这个会有测试标准么？
IEC是根据加速试验统计数据得到的吧？“高温存储70度24小时，高温运行65度48小时”这个要是单纯加速的话加速因子也不是很高的样子，这是测什么的啊？兄弟

gykhl 发表于 2014-7-14 22:31:50

1标准里面没有24,48小时，一般是16,72,96....
我只知道IEC60721提到一般散热产品16小时足够，所以我一般都是设计16小时做高低温存储，操作测试，至于大家选择更久比如72,96我也很好奇，不知道是不是大家随性选择，认为越长越好，呵呵
2.10年寿命，可以选择可靠性预计和MTBFdemo吧

pif2216 发表于 2014-7-15 14:27:47

gykhl发表于2014-7-1422:31static/image/common/back.gif
1标准里面没有24,48小时，一般是16,72,96....
我只知道IEC60721提到一般散热产品16小时足够，所以我一般都...

MTBF与寿命能对等？

lxwacn 发表于 2014-7-15 15:28:22

疑问就是高低温的时间，是否时间越长就越好呢？选择不同的时间的依据是什么呢？？

lxwacn 发表于 2014-7-15 15:30:46

这里的MTBF如何测试呢？总不能一直测试下去吧？

pif2216 发表于 2014-7-16 10:53:00

lxwacn发表于2014-7-1515:30static/image/common/back.gif
这里的MTBF如何测试呢？总不能一直测试下去吧？

可以用无失效评估
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