电子产品存储一段时间后寿命如何计算
一批电子产品装配、加电试用后，一直存储未交货。现要求提供这批产品的寿命，该如何计算？是否可以按照原理论寿命乘一个加速系数，系数如何确定？
存储期约4年
这个楼主应该做对应实验数据才能知道产品的寿命。
如果你是有相应的条件下存储4年（如高温条件），可以算出这4年相当于正常条件多少年。如果产品只是单纯的放在正常条件仓库中存储4年，那这个就没意义了。 1，材料特性部分，按照材料可靠性部分的理论直接可估算存储时间对产品品质的影响。有时因为材料的不稳定型可直接判定失效。
2，电子器件部分，通常都有供应商的承诺存储时间和理论上最长存储时间。超出理论预期部分有时可判定失效，有时需要测试重新评估其稳定性。
3，系统部分，这部分是我们最难预估的部分。对於设计产品时即要求可以工作或长时间存放的系统，我们只需要重新检测功能即可。如果对于我们想出货而远远超出了我们存放日期要求的产品，需要重新测试产品质量（包含可靠性部分）。此类产品的处理方式，在质量管理上有具体详细的抽检流程及判定方法。可以查询。 希望楼主能将最终的决策写出来给大家参考。 存储过程导致失效的问题，我目前还找不到计算的方法和依据。
由于是简单封装后长期存放在正常条件仓库中，周围的环境温度，湿度等没有记录。拿出部分产品做可靠性是好办法，但对于企业来说成本过高，没有商业意义。
不知道4s店的汽车长期存放在室外，对其电子设备的影寿命预估响有没有研究过。
加电试用过的产品和直接出厂的产品经过长期存放是否有区别，有人有研究没。
我的理解是：重新检测功能是必需的，必须保证出厂时好的。可以用故障率对寿命预估，针对本次集中进行功能测试，故障率曲线上只有当前一个点的故障率。可以用这一点和正常使用情况进行对比，预估寿命。可是采用什么模型，怎么对比还没有好办法。 可以按照MTBF寿命的理论进行折算，有相关的折算公式。通常我们做的是高加速，你要做的是反过来折算。电子产品有相应的活化能表，可以取个经验值。按照我的理解，货是一定会出的，所以，这样做就很好了。这算是我认为比较有说服力的理论部分。
直接对比故障率也是很好的办法。如果理论计算值和在失效曲线中的经验值接近，这就意味着得到的结论具有很高的可信度，可以导入试行规范执行。
高加速，需要知道加载的条件，现实的存放条件怎么和加速试验结合？
能否举个例子详细说说反过来折算怎么算。 Hi,Indrea,在否？
能否举个例子详细说说反过来折算怎么算。 各位班主老大，能帮帮忙不？
电子产品组装加电试用后长期存放相比电子产品组装不试用长期存放，对寿命是否有影响。 yysanpi发表于2014-9-2014:23static/image/common/back.gif
Hi,Indrea,在否？
能否举个例子详细说说反过来折算怎么算。
我只曾经跟一家客户的专家在产品培训时学了一点MTBF的计算，但是自己的工作部分用不到，所以照搬公式还可以，实在是无案例可举。我自认有能力去花时间设计方案出来，只是要做先生，远远不够，只能是讨论性的建议。
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