电子设备整机加速寿命试验

salmon6 发表于 2014-12-16 17:12:02

规定的MTBF达20000小时。如用正常方式进行试验，时间和成本受不了。对于寿命加速试验，国内外目前是否有什么标准可以参考吗？

symons 发表于 2014-12-16 18:18:35

你有需求了,现在可以在论坛里搜索案例什么的了.之前我也是这么问过来的.加油.

gdcpsam 发表于 2014-12-17 00:31:38

GBT2689.1~2689.4恒定应力寿命试验和加速寿命试验.

salmon6 发表于 2014-12-17 09:51:16

谢谢您的回复。但从标准看，是电子元器件的标准，能使用到整机产品中？另外，标准是1981年的，30几年间，电子设备和产品飞跃发展，还适用？

安迪李 发表于 2014-12-17 11:16:14

好像也没有新的国标出来代替啊

salmon6 发表于 2014-12-19 14:34:31

我也跟几个这方面的专家交流，目前还没整机相关的标准。而且对于可靠性实验室来说，如没有依据，很难会接收这样的设备进行加速寿命试验，并给出报告的。

280214495 发表于 2014-12-30 14:22:02

可参考Hallberg-Peck等加速模型。用公式来计算具体的加速因子从而找到试验时间、数量等。

xin 发表于 2014-12-31 08:34:18

:):):)

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