whn167404 发表于 2015-10-7 16:04:39

请教:电子产品整机加速寿命试验激活能的选取方法

激活能除了经验估计之外,对于整机进行老化试验的激活能如何科学的选取?
有没有通过理论计算等得到的方法?
是否可以通过元器件在不同温度下的不同失效率反算激活能?
请各位大哥指教:):)

whn167404 发表于 2015-10-7 16:05:14

样本量也非常有限

yeh 发表于 2015-10-11 09:13:48

激活能是科学的,是通过元器件在不同温度下的不同失效率计算的

jych312 发表于 2015-11-18 14:58:46

激活能的计算可以反向推到,但是比较复杂,有些推荐的激活能可以参考

function 发表于 2015-12-4 02:02:40

要靠試驗數據做迴歸分析才能獲得!
推薦的值通常是不準確的,不建議使用!

执笔画晴 发表于 2016-2-26 11:28:14

谁有详细的激活能试验回归分析资料,共享下贝

filtratedgun 发表于 2016-2-26 13:41:43

你是客户的话,往小了选,比如0.4;你是供应商的话,往大了选,比如0.7

执笔画晴 发表于 2016-2-29 11:43:31

filtratedgun发表于2016-2-2613:41
你是客户的话,往小了选,比如0.4;你是供应商的话,往大了选,比如0.7

直接这么选取的话,没有什么说服力啊。

所以。幸福 发表于 2018-3-23 13:22:10

把整机的薄弱点找出来做寿命评估
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