请教:电子产品整机加速寿命试验激活能的选取方法
激活能除了经验估计之外,对于整机进行老化试验的激活能如何科学的选取?有没有通过理论计算等得到的方法?
是否可以通过元器件在不同温度下的不同失效率反算激活能?
请各位大哥指教:):) 样本量也非常有限 激活能是科学的,是通过元器件在不同温度下的不同失效率计算的 激活能的计算可以反向推到,但是比较复杂,有些推荐的激活能可以参考 要靠試驗數據做迴歸分析才能獲得!
推薦的值通常是不準確的,不建議使用! 谁有详细的激活能试验回归分析资料,共享下贝 你是客户的话,往小了选,比如0.4;你是供应商的话,往大了选,比如0.7 filtratedgun发表于2016-2-2613:41
你是客户的话,往小了选,比如0.4;你是供应商的话,往大了选,比如0.7
直接这么选取的话,没有什么说服力啊。 把整机的薄弱点找出来做寿命评估
页:
[1]