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› 解读:JESD47Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
nantanglucky
发表于 2016-8-31 15:38:55
解读:JESD47Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits
抽样数是怎么确定的,用什么公式计算的?
样本量9163是怎么计算的,
套用了74A中的公式5,假设客户端使用寿命是1年(8760h),计算结果对不上。
λ=χ2c,d/(2×A×N×tA)
失效率(λ)卡方值χ2加速因子样本量加速试验时间(tA)
1.13993E-081.83191638760
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解读:JESD47Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits