有失效率要求的MTBF 规格怎么计算
我们是做液晶显示模块的，有个工业客户，做电表提出来要求原文如下：
该液晶模块在技术规格范围内，连续工作100，000小时后失效率不高于1，000ppm，
用户现场年失效率<1000ppm（在技术规格范围内，连续工作100000小时）
请问该如何去试验验证和计算？有人说需要进行强化和退化实验，我在这方面是个小白，还请各位多多指教这方面的知识。我的理解是如下，不知是否正确：
首先我们的产品是半导体产品，典型的构成是：TFT（薄膜三极管）PANEL，集成电路IC和软性线路板（FPC，上有电容电阻元器件若干）和LED背光及膜类，胶架或铁架。
一般我们是将整个模块（5~10pcs样品）点亮或不点亮放入到高温（如70°C）或者高温高湿（如50°C，95%RH）试验箱中去实验一定的时间，如240h或480h甚至1000h或更长，看看是否实验完成后仍然功能正常。我想知道的是，以下所谓强化实验，是否就是将所有样品用类似的条件，一直做到产品全部失效（功能失效）为止？而退化实验就是不断将样品取出（如每隔一天/24h）测量其关键参数（我们定义某些关键参数下降一半即算失效）从实验开始到失效各个时间点参数变化的情况，来拟合曲线，推断其关键参数的退化情况？
简而言之，是否就是类似做高加速寿命试验来计算MTBF，只不过是需要将全部产品做到失效为止，并不断监控其关键参数的变化情况？
其失效率又该怎么计算呢？
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