topoti 发表于 2016-12-9 11:21:41

关于电子元器件可靠性测试的几个问题

请教这里的大神：

1）现在经常完成试验的典型时间是168H，500H，1000H，2000H；这些时间点通过什么样的公式对应到器件正常工作时间

2）MTTF对于使用加速因子条件下试验，其MTTF含Af的计算公式是什么

请赐教，或者指明哪里有相关的标准下载也可，谢谢

李洋 发表于 2016-12-10 21:56:46

阿伦纽斯coffi-manson先把这两个了解清楚把。

topoti 发表于 2016-12-12 10:14:41

李洋发表于2016-12-1021:56
阿伦纽斯coffi-manson先把这两个了解清楚把。

能说清楚一些么？

topoti 发表于 2016-12-12 10:41:56

李洋发表于2016-12-1021:56
阿伦纽斯coffi-manson先把这两个了解清楚把。

能说清楚一些么？

qq021gd 发表于 2016-12-13 13:28:29

topoti发表于2016-12-1210:41
能说清楚一些么？

兩種加速模型，了解這兩種加速模型能對你自己提出來的問題頗有幫助

qq021gd 发表于 2016-12-13 13:28:45

topoti发表于2016-12-1210:41
能说清楚一些么？

兩種加速模型，了解這兩種加速模型能對你自己提出來的問題頗有幫助
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