新手提问:研发/量产阶段需要进行的可靠性试验
请问产品在研发阶段和在量产阶段需要进行的可靠性试验分别有哪些,试验条件有没有区别啊?我公司用的都是一样的,我有点迷糊。[本帖最后由cliffcrag于2007-11-1617:30编辑]
可靠性基础资料
548大侠里的可靠性基础资料有部分介绍,另第10页中典型的可靠性试验有三类:A.可靠性增长试验;B.可靠性鉴定试验;C.例行试验。也有介绍不同阶段的可靠性试验,可以参考一下--------------->>>>可靠性基础资料
阶段实验目的
实验特点
实验要求
研发
发现设计缺陷,扩大设计余量
高应力、短时间
无故障
中试
考察产品是否达到基本的可靠性水平
中应力、中长时间
无明显故障
批量生产
生产工艺条件的稳定性
低应力、短时间
有条件的允许故障发生
鉴定
鉴定产品的可靠性、计算产品的MTBF
低应力、长时间
无特别要求
请教:
在研发阶段用“高应力、短时间”怎样测试出产品的耐疲劳性? 原帖由winnie9999于2007-11-1708:39发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
请教:
在研发阶段用“高应力、短时间”怎样测试出产品的耐疲劳性?
我想這裡的“高应力、短时间”應該是指HALT,產品的耐疲勞性你所指的應該是結構方面吧,HALT對於結構方面還是真空地帶!呵呵! 研发阶段用HALT,量产阶段用HASS 1.HALT(高加速寿命测试)
2.HASS(高加速应力筛选)
2个都是针对研发阶段的测试,主要目的是找出产品的潜在缺陷,使产品的可靠性保持在“浴缸曲线”之内.
量产阶段
1.ORT测试
2.MTBF之类的 我终于明白了,大侠们的解释真的很详细! 学习一下,谢谢楼上各位版主。 学习了。自年初有幸得以加入,大受裨益。发现,做好一个可靠性设备业务行销,需要学习和提升的东西好多好多。而可靠性论坛,给了我们相互学习与交流的机会与平台。谢谢各位! 吴先生向来太客气了:lol
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