电子原器件完成耐久性实验后,一般在室温下恢复多久?
电子原器件完成耐久性实验后,一般在室温下恢复多久? 才可进行性能测试,有没有一个比较合适的值,以及参考的来源?我在参考GR-468协议中看到:A 1- to 2-hour drying period at room temperature and humidity这个只是针对Damp Heat Tests
个人主要关心时间长短,应力释放不干净,会导致测试结果存在偏差。 2个小时应该足够了,大部分标准内规定的都是2个小时
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