rickytian 发表于 2018-2-6 16:21:05

关于电子产品老化试验的抽样问题

请教大家一个问题：电子产品在做qualification stress时，对抽样的LOT之间（比如是否为连续lot，需要间隔多久等），以及抽样sample有没有什么要求？有没有相应的标准？
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