器件的失效率
没有哪个标准可以直接查器件的失效率的，这些标准可以查看失效率相关的一些东东，除GJB299B还有mil-hdbk-217f还有本站TR332reliabilitypredictionprocedureforelectronicequipment(bellcore) GJB288B中附录表中有器件的通用失效率可查询，但大都器件都是分立元器件，现在我要查贴片电阻，电容，晶休管以及集成电路查不到啊？？
那位告诉我一下到哪可以查询帖片元器件的通用失效率，谢谢 GJB288B????什么标准，可否传上来看看。
我们在常用计数法做预计的时候，计算出来过常用器件的失效率，可以参考一下：
贴片电阻：0.5电容:1晶体管:4fit集成电路就不一样了,有模拟的数字的.失效率都不一样.
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请问用Arrhenius模型计算加速系数AF时，那个活化能Ea怎么得到？我现在只有5个左右产品可以用来做试验，实在不知道怎么样可以得到活化能Ea，请赐教，谢谢! EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1)•T2为加速温度下的失效率
•T1为常温下的失效率
•K1、K2为加速和常温的K氏温度
•K为Boltzmann常数（8.623*10-5eV/K）
*JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
*某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV
*推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间
因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV，所以我在计算的时候常用的是：0.6
下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下:
ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY
COMPONENTEa(eV)Transformers0.5Resistors0.56R-Pacs0.56Inductors0.56Capacitors0.6LinearModules0.7Diodes1BridgeRectifiers1Transistors1OpticalIsolators1 如果产品不是普通消费性电子产品，对可靠性要求比较高，我不知道如果直接用0.6作为Ea值是否可以？客户那边是否可以接受？ 看了一下，感觉水越来越深呀。
如何计算平均故障间隔时间MTBF？
如何计算平均故障间隔时间MTBF？1）元器件计数法该方法适用于产品设计开发的早期。它的优点是不需要详尽了解每个元器件的应用及它们之间的逻辑关系就可迅速估算出产品的故障率，但预计结果比较粗糙。元器件计数法公式为：
式中：
λs——产品总的故障率；
λGi——第i种元器件的通用故障率；
πQi——第i种元器件的通过质量系数；
Ni——第i种元器件的数量；
n——产品所使用元器件的种类数目。
平均故障间隔时间MTBF：MTBF=1/λs
2）应力分析法该方法适用于电子产品详细设计阶段，已具备了详细的文件清单、电应力比、环境温度等信息，这种方法比元器件计数法的结果要准确些。应力分析法分三步求出。
第一步先求出各种元器件的工作故障率λp：
式中：
• λp——第i种元器件的工作故障率；
• λb——元器件基本故障率；
• πE——环境系数；
• K——降额因子，其值小于等于1，由设计根据适用范围选定应力等级后决定。
第二步求产品的工作故障率λs：
式中：
• λpi——第i中元器件的工作故障率；
• Ni——第i种元器件的数量；
• n——产品中元器件的种类数；
第三步求产品的MTBF:MTBF=1/λs。
欢迎大家的踊跃讨论，对我的观点提出指导及批评意见，谢谢大家对我工作的支持。 请教:有客户要求提供产品的λs,但我只有产品总数,如何求得这个数值,λGi\πQi又是怎样得到的,多谢指教 原帖由雄风于2007-7-2714:48发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
请教:有客户要求提供产品的λs,但我只有产品总数,如何求得这个数值,λGi\πQi又是怎样得到的,多谢指教
兄弟,你先去看看可靠性预计相关的标准,不管是217还是299,都会很容易得到你想知道的的答案.虽然很可能会用不上,就当丰富可靠性历史知识了.