应该用阿列纽斯公式推导的.
谁能说明下此公式是如何推导的。谢谢。 原帖由Gary于2008-4-316:00发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
公式采用的加速模型与你的实验项目有关.
如果STRESS只是温度,通常可以采用阿列纽斯方程,
如果是其它应力,阿列纽斯方程不一定适用.
加速因子的大小与你的样品类型和失效机理有关,需要做至少两组实验,最好三组实验来...
不会吧,老大还要收费哟,买不起啊。 指数级? 原帖由saven于2008-4-314:28发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
上次去听可靠性测试,听老师讲到一个公式,记得不太明白了,大概意思是说,如果一个产品在常温25℃可工作100个小时,那么在高温60℃就只能工作10个小时,不知道这个公式是怎么算出来了。
也就是说,如果我知道一个...
搞的真復雜,應該是10度法則,溫度每上升10度,壽命減小一半。
25度-----100H
35度-----50H
45度-----25H
55度-----12.5H
60度-----最多也就是10H
希望是那個老師的意思,不然就要被丟磚頭了!;P 一个朋友叫iq2002说答案是:十度法则,之前也听说过是关于温度应力和时间模型的简化,简单说就是:温度上升10度,寿命减半。,希望iq2002朋友能够给大家分享更多的可靠性知识。:handshake
to 14楼的兄弟
你说的这个,主要是应用在电容上寿命估计的LZ说的那个,不太清楚,不过一般可以根据阿列纽斯公司推导。 常见的非恒定应力谱和组合应力包括:
—步进应力谱试验;
—渐进应力谱试验;
—高加速寿命试验(HALT)(设备级);
—高加速应力筛选(HASS)(设备级);
—高加速温度和湿度应力试验(HAST)(零件级) 基本上一个估算模型:温度每升高10度,对于电子元器件来说寿命会减少一半。 我只知道Arrhenius模型,其它的给我看一下嘛 Gary发表于2008-4-316:00static/image/common/back.gif
公式采用的加速模型与你的实验项目有关.
如果STRESS只是温度,通常可以采用阿列纽斯方程,
如果是其它应力,...
这个一定要顶