csudxl 发表于 2009-5-25 14:58:15

不错!只可惜不完整,只有第一章内容,要是完整就好了。仍然感谢分享!

lanny 发表于 2009-6-19 13:56:23

多谢分享资料

sunnyeast 发表于 2009-6-24 10:14:19

很好,谢谢了

zhangxw 发表于 2009-6-25 15:23:01

资料看样子不错,有时间学习一下

rainjunyu 发表于 2009-7-6 13:22:22

好东西,顶一下,谢谢楼主

lanjian 发表于 2009-7-25 10:40:41

好东西,感谢分享

xiaoxie 发表于 2009-7-26 10:38:33

请问楼主能不能将静电敏感器件的失效模式详细的描述,谢谢!因为静电损伤有很多级别,等级低的损伤不是马上能体现出来,而是在重大损伤之后才能体现,一直都没弄明白轻微静电损伤到底有什么模式,如果用试验方法筛选以防止产品流到客户?谢谢

阿牛 发表于 2009-8-1 12:06:26

怎么没有后面的内容呀?

yzz789 发表于 2009-8-3 09:27:26

:handshake:handshake

godness2008 发表于 2009-8-12 12:18:56

好东西,谢谢
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查看完整版本: 电子元器件抗ESD损伤的基础知识