snow2eagle
发表于 2009-3-4 16:17:46
谢谢了,方法才是最重要的
happysoso
发表于 2009-3-29 13:02:31
谢谢,这是急需的呀:handshake
megan
发表于 2009-12-29 10:44:21
非常感谢
nevillezhou
发表于 2010-12-9 21:49:13
好。学习了。
yunzhik
发表于 2011-1-26 10:01:42
收藏了,感谢楼主无私分享。
salemz
发表于 2011-1-27 16:02:12
學習了看看電子業的人是怎麼寫的
GUCCI
发表于 2011-3-31 22:46:29
本帖最后由GUCCI于2011-3-3122:50编辑
对于产品在详细设计前期,设计尚未定型时,建议使用功能FMEA,用RPN方法,严酷度*发生度
硬件定型后,建议采用硬件FMEA1.使用RPN方法的话,可以考虑加入探测度的考虑,即严酷度*发生度*探测度
2.使用危害矩阵方法的话,我觉得这个方法比较好,考虑了危害发生概率和器件的失效率,
生产中,采用过程FMEA这个按流程来做就可以了,很easy.
wangfyfe
发表于 2011-4-3 20:51:17
个人觉得实际案例没太大的指导意义,关键还是理解+数据分析
owshiiuhs
发表于 2011-7-16 14:49:32
汽车的DFMEA做的比较成熟了~
sail0695
发表于 2011-9-13 11:19:00
看1下是什么,谢谢分享