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baoshanqin 发表于 2008-4-21 20:22:54

关于活化能Ea的计算

请问各位：活化能对于芯片级的可靠性测试来说，是怎么定出来的？

Gary 发表于 2008-4-21 22:35:31

1,直接用行业的经验Ea值
2,做多组实验,然后代入应力加速模型(譬如阿列纽斯方程...)算出Ea值

fuckit 发表于 2008-4-22 16:26:02

LZ可以参考JESD85和JEP122标准
当然楼上的第二种办法最好

Daphneli 发表于 2008-9-17 10:00:06

按照GR-468里面的是将产品分三组分别在三个温度下进行试验。。。然后来计算Ea

admin 发表于 2008-9-17 10:33:44

这里有两个附件可参考一下：

http://www.kekaoxing.com/club/thread-691-3-1.html

vince1981和我各上传了一个附件，关于EA的计算的，可以参考一下。

第26/27楼。

AcceleratedLifetest--v.rar(29.2KB)EaandAF.rar(24.99KB)

ayang1003 发表于 2008-9-17 20:07:47

非常感谢大家的热心解答！

smart2161 发表于 2010-5-27 15:41:24

我也一直在找活化能的定義和算法,謝謝了!

ibmmaomao 发表于 2011-3-11 18:50:18

DoexperimentandcalculatedbyArr....mode

rocketeer 发表于 2011-4-2 15:38:09

有些芯片廠將Ea設為0.7eV！

ibmmaomao 发表于 2011-4-15 19:29:16

回复2#Gary
阿列纽斯方程===>温度是指产品的结温,还是锔炉的温度呢?

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