如何测试IRFU/R120是否失效

ttr1200 发表于 2008-7-21 17:26:17

各位大侠：小弟想请教一下如何应用万用表或半导体图示仪判断IRFU/R120是否失？谢谢！

annie@jing 发表于 2008-7-21 17:44:23

怎么和我们用的元器件一样啊?我都是将引脚之间的电阻进行测试,
与好的电路中的电阻进行比较
如果坏的彻底就好了,用二极管档就可以了

338 发表于 2008-7-22 08:32:42

是的，同楼上MM一样，一般用电阻档或二级管档，只要不是开路或短路，基本上是好的，再和一只好管比较一下阻值的大小，差不多就可得出结论了。

aries 发表于 2008-7-23 15:55:04

既然有图示仪那就比较pintognd的IV咯
还可以进一步比较pintopin的IV
如果和良品有很大差异就很有可能fail

ttr1200 发表于 2008-7-28 15:19:54

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但是FU120这个器件是MOS管，仅有S极和D极之间有一个反向二极管，正常状况下G对S和G对D之间应该是开路，但是我测量过程中很多FU120中没有明显的开短路，但是还是不能够使用，约占失效比例的10左右，而且仅凭开短路判断MOS管的失效也不是很客观啊。因为MOS管本身在管脚之间就存在开路或短路的脚位。谢谢

fjd6581 发表于 2008-7-29 16:05:17

有图示仪可象测晶体管一样，千万别用I－V测试判断好坏。

fzhello 发表于 2008-7-29 17:00:45

如果是器件生产厂家，希望判断成品率或者进行筛选，当然应该测试器件所有指标。

一些比较好测的直流指标有：
VGS(th),ID(on),RDS(on),VDS(on),gfs,BVDSS,IDSS,IGSSF,IGSSR等

这些好像图示仪应该也能测个7788了吧，很久不看都忘记了。

你应该是应用厂家吧

你现在是希望在用之前就对这个有个判断，以确定是生产环节或者是之前的问题是么？

说实在，如果是正规供应商批量拿的货，器件本身的问题概率很小，

如果你们还有其他的产品用这个器件，而失效率没这么高，考虑电路设计的问题

如果所有用这个器件的产品，失效率都差不多，考虑ESD的问题

建议从多方面入手，逐个分析

可靠性的问题，通常是很多复杂因素综合起来的结果。

而我们常常只用简单的一个词来说明：失效。

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