可靠性论坛(旧) › 可靠性试验 › 关于一些加速模型的整理

liugang_2002 发表于 2010-1-18 23:12:20

我这里有两篇文章，关于加速模型的。
问下各位有没有关于微电路电压加速模型的原始论文？有的话共享下，谢谢了先。

chjhwfj 发表于 2010-1-22 22:36:46

楼上传的资料也很好，谢了，不知哪位大侠有关于温度循环加速方面更详尽的资料

riyuetan007 发表于 2010-1-23 09:57:59

上供一些加速试验方面的资料贡献自己的一点力量

admin 发表于 2010-1-23 10:33:13

快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验新方法的研究

帮楼上补充摘要:


快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验新方法的研究
李杰郭春生程尧海李志国
（北京工业大学电子信息与控制工程学院，北京100022）
摘要：提出了一种新的微电子器件快速评价方法－温度斜坡法，建立了确定失效激活能的新模型和寿命外推新模型，使用此模型可计算出单支器件的失效激活能并外推其寿命。同时，该方法的试验温度范围较宽，可以触发不同温度范围的多种退化模式，实现对不同退化机理的研究。
关键词：温度斜坡；激活能；多退化机理
PACC：3520G;8170
中图分类号：TN32文献标识码：A
ANEWMETHODOFRAPIDLYCONFIRMINGACTIVATIONENERGYANDEXTRAPOLATINGLIFEOFELECTRONICDEVICE

某精密金属膜电阻器温度加速寿命试验

1.试验
1.1试样
样品型号规格：RJ2—0.5W—176Ω±0.5%
全部试验样品均由工厂进行可靠性筛选试验合格品中抽取。

1.2试验条件及样品数量（见表1）
为验证温度加速寿命试验结果及推导至额定应力条件下寿命特征量的准确性，除开展温度加速寿命试验外，还进行额定应力条件下10000小时的长期寿命试验。

admin 发表于 2010-1-23 10:33:16

某精密金属膜电阻器温度加速寿命试验

1.试验
1.1试样
样品型号规格：RJ2—0.5W—176Ω±0.5%
全部试验样品均由工厂进行可靠性筛选试验合格品中抽取。

1.2试验条件及样品数量（见表1）
为验证温度加速寿命试验结果及推导至额定应力条件下寿命特征量的准确性，除开展温度加速寿命试验外，还进行额定应力条件下10000小时的长期寿命试验。

流浪七月 发表于 2010-6-15 00:22:34

admin发表于2008-8-2609:28[

流浪七月 发表于 2010-6-15 00:26:44

有坛友问电压加速模型的问题，这里把很久以前整理的一篇文章分享给大家参考一下。


以前整理的，请参考...


AF=(RHt/Rhu)^3*exp[(Ea/k)*(1/Tu-1/Tt)]

为什么是3？Hallberg-peckModel建议的好像是2到2.5吧，老大可否分享下Hallberg-peckModel的原文出处

whxuzhi 发表于 2010-6-20 23:14:21

有没有关于机床行业的加速模型呢

whxuzhi 发表于 2010-6-20 23:14:28

有没有关于机床行业的加速模型呢

deadxiaoh 发表于 2010-7-13 17:30:36

谢谢楼主分享！！！！！！

查看完整版本: 关于一些加速模型的整理