liguang304
发表于 2008-10-24 09:54:20
如果的鉴定性质的，对样品的数量是有要求的，普通的自己内部可靠性试验则对样品的数量没特别的要求，主要根据MTBF值以及可靠性实验考核的性质而定。也就是要综合MTBF总时间、试验成本条件等因素而定。具体的定法没确切的标准可依。
tmxrr
发表于 2008-10-28 11:24:59
不熟悉，正在看这部分的资料，有的共享一下，谢谢！
echely_lin
发表于 2008-10-28 13:26:39
理论确实是样本数越大，测试所需时间越短。但一般都不会采用那么多的量去做试验吧，一个空间有限，而且对于做完的机器一般都是不允许出货的，所以就看你们公司怎么看待啦
deadxiaoh
发表于 2010-6-21 16:27:29
貌似帖子里没有讲数量呀、、、、、
whxuzhi
发表于 2010-7-5 23:30:33
好像和产品的产量有关系
ibmmaomao
发表于 2011-3-10 19:49:01
Learnandstudy
xucs
发表于 2011-12-6 19:59:03
:victory:
aomareliability
发表于 2012-1-19 19:19:43
加速寿命试验？是不是想通过加速的方法来测试MTBF。。。。
若果你是做元器件，说加速寿命试验是没有问题的。如果是电子类产品这样理解，我个人觉得不合适。
若是元器件：是可以从使用此元器件产品的开始工作到停止休息时间为基数，试验的时间不能小于基数，最好能大于5倍（个人经验）的基数时间，试验时间越长越好，控制在自己接受范围内。
若是产品：以产品实际连续运行时间为基数，试验时间的选择同上。
kin0914
发表于 2012-2-10 13:32:50
謝謝提供這樣的資料,推薦.
晨晨_Z7qG2
发表于 2021-8-23 13:11:56
电路板的加速试验 如果只考虑温度，是否一定要做到125度？