可靠性网's Archiver
可靠性论坛(旧)
›
可靠性试验
› EM、HCI、NBTI/PBTI、TDDB/GOI
kery105
发表于 2018-12-17 15:19:52
EM、HCI、NBTI/PBTI、TDDB/GOI
有哪位大神知道EM、HCI、NBTI/PBTI、TDDB/GOI这几个半导体工艺可靠性的目的,方法条件和失效模式是什么的吗?
页:
[1]
查看完整版本:
EM、HCI、NBTI/PBTI、TDDB/GOI