aitaitait 发表于 2009-9-23 19:05:12

谢谢了，学习中。。。。

kingdodoo 发表于 2009-9-29 09:15:58

HALT共分为4个主要试程,即:温度应力;高速温度传导;随机振动;温度及振动合并应力.在HALT试验中可找到被测物在温度及振动应力下的可操作界限与破坏界限.此实验所用设备为HANSE公司所设计的高加速寿命试验与高加速应力筛选系统HALT/HASS,温度范围为-100℃~200℃、温度变化最大速率为70℃min,最大加速度可到100Grms,而且振动机与温度箱合二为一的设计可同时对被测物施加温度（湿度可选）与振动应力
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这个温变率比当前主流设备所能达到的都大！**实际上做HALT或者HASS的时候，温变率一般也就是加到15℃/min，加速度均方根值也就是10Grms左右，实际试验中加到这么大的温变率或者加速度均方根值会不会引入新的失效机理，还有待实践检验。楼主能不能举个具体产品的实际的HALT或HASS的例子？

fpeixin 发表于 2010-2-9 16:03:08

非常好的教材，谢谢了

穿山甲 发表于 2011-8-19 17:11:32

现在做这个的企业很多了、、、很多大私企都请咨询公司做

bzp123 发表于 2011-10-19 14:34:20

收藏起来

xiaxiaominket 发表于 2011-10-19 16:00:22

我们公司现在也开始这块测试了，可惜刚起步没有相关人才，学习了

kk8688 发表于 2011-11-17 09:26:20

说的很清楚了，多谢，不知道一些大型电器设备做HALT/HASS是否合适，

kemi 发表于 2011-11-17 14:34:28

我记得我从04刚进公司就做HALT实验，我们做的是个人电脑，主要是针对主机板，通常是施加温度和振动应力。一般就是四块主板，一块找高温极限，一块找低温极限，一块找振动极限，最后是振动和温度的复合应力。电脑主机板通常能发现制程和电子元器件本身的缺陷。

carlytang 发表于 2011-11-20 15:27:37

非常感谢坛子里的老师，可以学习到不少东东.现在公司有这个设备，需要测试的兄弟姐妹们可以联系我。QQ:269298242,手机13427543310

david6404 发表于 2012-3-23 13:09:15

非常好的材料，谢谢
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