加速寿命试验的数据处理
<BR><style>.Nct953{display:none;}</style>
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<div> 根据加速寿命试验的结果数据，进行分析和处理，可以得到试验器件的可靠性分布参数。</div>
<div> 如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程，则可在单对数坐标纸上画<em>t<sub>i</sub></em>(0.5)～1/<em>T<sub>i</sub></em>直线，即将整理的1/<em>T<sub>1</sub></em>、1/<em>T<sub>2</sub></em>…1/<em>T<sub>e</sub></em>数据在单边对数坐标上描点，各点分布应近似为一直线。此直线就是加速寿命曲线。利用此法可预测出在正常温度<em>T<sub>0</sub></em>下的中位寿命<em>t<sub>i</sub></em>(0.5)，如图8.5所示。</div>
<divalign="center"><imgheight="336"width="350"alt=""src="http://www.kekaoxing.com/dede/upimg/allimg/061214/1117470.jpg"/></div>
<divalign="center"><strong>图</strong><strong>8.5</strong><strong>加速寿命曲线</strong></div>
<divalign="center"><strong> </strong></div>
<div>利用威布尔概率纸可以预测正常温度下的寿命分布：</div>
<div>(1)由整理数据中的形状参数<em>m<sub>i</sub></em>值可用下式计算出在正常温度<em>T<sub>0</sub></em>下的<em>m<sub>0</sub></em>值</div>
<palign="left"><sub><imgheight="45"width="288"alt=""src="http://www.kekaoxing.com/dede/upimg/allimg/061214/1117471.gif"/></sub> （8.18）<pclass='Nct953'>http://www.可靠性.com</p></p>
<div>式中，<em>n</em><sub>1</sub>、<em>n</em><sub>2</sub>、…<em>n<sub>e</sub></em>是<em>t<sub>1</sub></em>(0.5)、<em>t<sub>2</sub></em>(0.5)…<em>t<sub>e</sub></em>(0.5)时的失效数。</div>
<div><span> </span>(2)在概率纸上描绘[<em>t<sub>0</sub></em>(0.5),<em>F<sub>0</sub></em>(0.5)]点；</div>
<divalign="center"><imgheight="232"width="371"alt=""src="http://www.kekaoxing.com/dede/upimg/allimg/061214/1117472.jpg"/></div>
<divalign="center"><strong>图</strong><strong>8.6L<sub>0</sub></strong><strong>的求法</strong></div>
<div> (3)在概率纸<em>y</em>轴标尺上找到<em>m<sub>0</sub></em>点，由此点向左引水平线与<em>y</em>轴相交，过交点与<em>m</em>估计点作直线H，再过点[<em>t<sub>0</sub></em>(0.5),<em>F<sub>0</sub></em>(0.5)]与H线平行的直线L<sub>0</sub>。L<sub>0</sub>线就是在温度应力<em>T</em><sub>0</sub>下，形状参数为<em>m<sub>0</sub></em>的寿命分布直线。如图8.6所示。</div> :o是不是还有没写完啊？ 沒有了?還沒看全! 标签语言都上来了呢:) 乱码吗？？？
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