北京可靠性培训（2009.3.13-14)
关于举办“电子元器件可靠性试验和失效分析”高级研修班邀请函一、主办单位：中国电子可靠性协会；
二、承办单位：北京慧思文化传播中心；
三、培训时间、地点:2天，北京2009年3月13-14日，3月12日报到；
第一部分电子元器件的可靠性试验
1可靠性试验的基本概念
1．1概率论基础
1．2可靠性特征量
1．3寿命分布函数
1．4可靠性试验的目的和分类
1．5可靠性试验设计的关键问题
2寿命试验技术
2．1加速寿命试验
2．2定性寿命保证试验
2．3截尾寿命试验
2．4抽样寿命试验
3试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法
4可靠性测定试验
4．1点估计法4．2置信区间
5可靠性验证试验
5．1失效率等级和置信度
5．2试验程序和抽样表5．3标准和应用
6可靠性筛选试验
6．1筛选试验的概念
6．2筛选试验的种类和效果
6．3筛选试验条件的确定
6．4筛选试验时间的确定
7电子元器件可靠性试验案例
第二部分电子元器件失效分析技术和案例
1电子元器件失效分析技术和应用案例
1.1失效分析的基本概念和一般程序
1．2失效分析技术的特殊应用
1.3失效分析的电测试技术
1.4无损失效分析技术
1.5模拟失效分析技术
1.6塑封器件开封、IC芯片剥层和剖切面技术
1.7形貌像技术
1.8红外热像仪和光发射显微镜技术
1.9聚焦离子束技术
1.10微区化学成分分析技术
2分立半导体器件和集成电路的失效机理和案例
2.1塑料封装失效2.2引线键合失效
2.3水汽和离子沾污2．4介质失效
2.5过电应力损伤2.6闩锁效应
2.7静电放电损伤2.8金属电迁移
2.9金属电化学腐蚀
2.10金属-半导体接触退化
2.11芯片粘结失效
3电子元件的失效机理和案例
3.1电阻器3.2电容器
3.3继电器3.4连接器
3.5印刷电路板和印刷电路板组件
八、师资介绍：
八、师资介绍：
费庆宇男，原信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。
九、联系方式：
电话：010-52031713传真：010-52031723E-MAIL：sky_liu@vip.163.com联系人：刘天宇
报名单位名称（开发票）：
序 姓名 性别 职务 电话 手机 E-mail
1
2
3
户名：北京慧思文化传播中心
帐号：0120000103000007684
开户行：北京农村商业银行光华路支行
是否住宿 是□否□
食宿标准 宿：280-300元/标间（费用自理）；食：午餐免费，其他费用自理。
备注：请注明欲参加班次（请在括号里打√）北京〖〗
发件人：刘天宇电话：13718583587 想参加
页:
[1]