事实上，分析我们是还在进行的！有任何的进展会给大家一个更新！
同时希望各位大侠有任何相关的经验和经历，也别吝啬分享一下，也可有更多的参考!
看了你的分析报告，在“c）Hightemperatureofenvironment”这个试验中，从你的图片上看好像试验过程中，适配器是敞开的，这点应该和电容器的实际工作环境有别，如果确实如此，这个试验还是应该修正一下，这个是否请楼上明确一下；
另外就是我不了解你测试温度的时候测试点是贴在什么地方？如果是测试电容温度，应该贴在电容侧壁上吧；
最后就是你可以对另外两个没有失效的适配器上同位号电容器进行参数测试，看看有没有参数劣化的迹象；
以上仅仅是个人的一点浅见。
回复 30楼 aries 的帖子
我们还没有测到有SuddenRise！回复 31楼 justinbk 的帖子
应该说测试适配器是没有完全封闭的，我们尽量去封住的！我们做了新一轮的测试，测试点从顶部调整到侧面了，温度会有4到5度差异！
回复 33楼 VincentWeiyunfu 的帖子
你指的测试点是指电容器上的吗？从顶部调整到侧面，温度有差别，请说清楚些哪里比哪里的温度为高？ 学习来啦，谢谢！ 原帖由VincentWeiyunfu于2009-3-2423:50发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif我们还没有测到有SuddenRise！
那你的report里面讲suddenrise似乎有点不妥吧
Iftheadapteroperatedover-load,thetemperateofoutputfiltercapacitorswouldsuddenrise,whichcaused
bulgingoftheventandelectrolyteleak.
因为现在从你测试的结果来看电容的工作温度并不高,而且又没有suddenrise的问题
那是否需要去考量一下电容的质量问题呢?
而且你前面也说这些电容都是一个supplier提供的,其提供的加速试验的数据是否可信呢?