紧急求教！！序贯实验方案
刚被公司分到可靠性组，没什么基础现在在看GJB-899-90里面的序贯试验方案有点看不懂，请大侠们指点下。多谢！！ 另外，有没有做过光电模块可靠性的前辈，指教下我该从哪入手开展可靠性工作，现在公司刚刚起步可靠性，我接触的仅仅使电老化和高温存储方面的设备。这几天急死了。
还有有没有可靠性入门的书籍介绍下，万分感谢！！
[本帖最后由mantou于2009-3-1119:52编辑] gjb899上面的方案看起来是有点乱，尤其是理论部分和图表不在一起，看起来很别扭。不过，仔细看的话，还是可以看明白的。如果确有不明白的地方，那你就把具体的地方指出来，光说看不懂，让别人也不好解答呀，是吧。
另外，刚接触可靠性，可以先看一看这个帖子http://www.kekaoxing.com/club/viewthread.php?tid=5233&highlight=%BB%F9%B4%A1
可靠性工作确实千头万绪，很容易出现“剪不断理还乱”的情况。建议你先找一本《可靠性工程基础》的书看看，随便一本就行，先理一下思路。
[本帖最后由zhanghjspace于2009-3-1122:33编辑] 好的，周末去买本书了解下整体概况。
我再仔细看下，有不懂的地方还请不吝赐教！！
可靠性电子书，可以参考一下
http://www.kekaoxing.com/book/book/ 多谢！ 论坛力高手如云，你有问题提就是了，高手们会给你解答的:lol:lol:lol 发个邮箱，前辈们多多帮助！kliu@dlactech.com
如蒙指点，万分荣幸。现在想弄个光电器件的老化和高温测试，不知道该从哪入手，有没这方面的大侠给些宝贵意见。XX zhanghjspace发表于2009-3-1122:30static/image/common/back.gif
gjb899上面的方案看起来是有点乱，尤其是理论部分和图表不在一起，看起来很别扭。不过，仔细看的话，还是可...
关于序贯试验，我想请教一个问题：
在899这份文件中，有这么一段话“对于具有未知的MTBF值为θ的指数型产品，在累计工作时间t内发生r次故障的概率为
Pr(r)=(t/θ)^r*(exp(-t/θ)/(r!)
我的问题是，这个概率是如何计算的？
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