murenlijun 发表于 2009-4-9 19:27:02

原帖由ruicai_2001于2009-4-911:27发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
我想了解的主要是PCB板在电迁移的测试。我的理解是在使用一定的时间后，排线上的铜电子迁移到绝缘板上，最终导致了短路的现象。而在这方面的测试大多都加入了高温高湿的加速条件进行，而具体是怎样的条件？需要怎样的...

我想应该是叫离子迁移。你可以自己做个试验，在PCB上找两根平滑的导线，两端加上5V的直流电压，然后在导线中间滴一滴水，用放大镜观察水滴，如果实验成功的话很快就可以看到传说中的‘离子树’，长得真根树一样，我这没图片，早丢了。这实验名字各公司叫法不一，有的叫电化学腐蚀实验、有叫离子迁移实验，我知道IBM公司的叫THB（temperature&humiditybias)，是在高温高湿环境下加上一定电压条件做的。

grass_1985 发表于 2009-4-10 16:48:04

我觉得楼主给出的这个术语可能有点问题。电子迁移是半导体中常用到的，它是半导体器件实现功能的一个基础，应该不会造成楼主说的器件发生老化。

reliab 发表于 2009-4-10 16:58:18

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我想应该是叫离子迁移。你可以自己做个试验，在PCB上找两根平滑的导线，两端加上5V的直流电压，然后在导线中间滴一滴水，用放大镜观察水滴，如果实验成功的话很快就可以看到传说中的‘离子树’，长得真根树一样，...

是的,这类试验我以前也有接触过,大同小异!

扁豆 发表于 2009-4-14 14:51:43

我这有一个测试迁移的实验：温度65，温度95%300小时相当于60000小时的工作时间

34581243 发表于 2009-4-15 10:38:21

原帖由扁豆于2009-4-1414:51发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
我这有一个测试迁移的实验：温度65，温度95%300小时相当于60000小时的工作时间
可以具体讲讲你的实验方法和步骤吗？
有兴趣！

ruicai_2001 发表于 2009-4-15 10:53:30

可能是与离子迁移混淆了！
是不是在PCB板的可靠性试验中做的是离子迁移而没有电子迁移？
离子迁移真的是像上面的说的加5V电压滴一滴水就可以进行的？？？

qiqingjun2008 发表于 2009-4-15 11:21:28

不错，挺有用的

不错，挺有用的

murenlijun 发表于 2009-4-15 11:56:07

原帖由ruicai_2001于2009-4-1510:53发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
可能是与离子迁移混淆了！
是不是在PCB板的可靠性试验中做的是离子迁移而没有电子迁移？
离子迁移真的是像上面的说的加5V电压滴一滴水就可以进行的？？？

自己动手。搞可靠性的没动手能力还搞啥啊

xwamy 发表于 2009-4-15 14:32:39

很透彻

说的很好，。感觉不错哦，。看资料好久还是不知道什么是离子迁移。来这就知道了:lol
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