可靠性论坛(旧) › 可靠性试验 › 激活能Ea如何取值？(附微电子器件失效激活能快速评价法)

dingosong 发表于 2012-1-13 11:26:37

失效模式        失效机理        激活能（eV）
阈值电压漂移        离子性（SiO2中的钠离子漂移）        ...
murenlijun发表于2009-4-1416:35http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif

这个是在哪儿找到的？

wenfeng3652 发表于 2012-10-15 14:26:23

附件的资料看了，似乎对于实际测试中如何得到Ea没有多大的帮助

可靠性保证组 发表于 2012-10-19 08:08:27

电子行业中很多大公司都采用0.67eV,如果一般的消费类产品，电源芯片可以近似引用

keyun9804 发表于 2013-1-22 09:20:45

不错的东东

lanselixiang121 发表于 2013-3-25 17:16:47

多谢分享~~~~

kingkong 发表于 2013-4-2 23:07:04

答案已经在回帖中了，如要准确了解产品的活化能只有自己设计试验，条件还是要依据产品对于温度的临界条件，设置2个或以上的温度点反用Arrhenius模型即可得到。

guoxiaoling 发表于 2014-12-3 18:06:22

有没有具体元器件的激活能值共享下

haa86897282 发表于 2014-12-10 09:32:19

楼上的讨论很不错，学习一下:)

gan282539464 发表于 2015-1-27 00:36:45

附件的东西有点深奥

kongci2600429 发表于 2015-1-29 20:50:29

好资料看看

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