vince1981 发表于 2009-5-6 10:10:03

看来导师都tmd误人子弟阿。

cwz1978 发表于 2009-5-6 14:42:38

楼主真可怜，毕业设计遇到这么一个倒霉的课题和倒灶的导师。:L

heavenfish56 发表于 2009-5-7 09:40:58

谢谢大家的同情，呜呜！欲哭无泪啊，还要考G，真的没有时间了！还是自己好好努力吧！天天被导师骂，真想自杀，痛苦的日子何时才是一个尽头啊！

heavenfish56 发表于 2009-5-8 13:58:36

现在想要开关管IRF740的跨导变化量的加速实验数据，问一下大家有没有人有啊？

maxhuman 发表于 2009-5-10 08:18:45

可怜的孩子

你的老师应该不懂可靠性！

为凑数，捷径就是看一看可靠性预测的书，从GJB299（中文的），MIL-HDBK-217标准中取数据吧。

或许再了解加速寿命试验的一些基本概念，论文就好写了。

heavenfish56 发表于 2009-5-11 10:20:07

还有不到一个月的时间了，急的睡不着觉啊！有没有人能救我啊！真的不知道该怎么做，该做什么！呜呜！

justinbk 发表于 2009-5-11 12:06:15

回复 16楼 heavenfish56 的帖子

如果楼主仅仅是为了混过这个本科的论文，那之类的数据我相信网上肯定还是能找到的，很多论文数据库也应该都能查到一些，比如万方啊什么的，国外的还可以查下IEEE的论文等等。也可以直接按照上面几位说的参考下标准来得更直接呵呵。我这样说可能会有人跳出来说我误人子弟，不过中国的高等教育目前就这样。不过楼主混到最后一个月了试验都没开始设计，这个确实有点说不过去啊。

Jack315 发表于 2009-5-11 14:14:34

仙童网站上有一点关于IRF740可靠性的数据，不知道对LZ有没有帮助：
http://www.fairchildsemi.com/products/discrete/reliability/pcn00053.html

共查到有下列公司，（曾）生产过IRF740，LZ不妨自己去看看有没有需要的资料：
(1)STMicroelectronic
(2)INTERSILCorporation
(3)FAIRCHILDSemiconductor
(4)VISHAYSiliconix
(5)SUNTACElectronicCorp.
(6)DCComponents

ludw 发表于 2009-5-14 12:53:56

我觉得我可以和你合作，我们现在也正在寻找项目的突破口。你可以提供仿真的模型，我们用实际的数据为你做支撑。如果可以，你给我E-Mail：lufei06@163.com
页: 1 [2]
查看完整版本: 需要加速实验的数据