老化测试的作用
请大家分享电子元器件的老化测试
编译：关道丰
为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。
在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。 为了提高半导体器件的可靠性，老化是在高温室(通常125℃左右)内进行，给器件加上电子偏压，大部份时候还使用动态驱动信号，168个小时之后将器件取出进行测试。 请问半导体致冷器或者单晶硅太阳电池的老化试验方法怎么确定？请教楼主 請教有機構塑料方面的老化測試規範或方法嗎??
懇請幫忙.感激~ 标准是这么规定的，即125℃，168小时的老化。 谢谢了，不知道有没有各参数，压力，温度，一定的测试时间所对应的实际的估算时间是多长？？ 对，不知道有没有具体的参数？对象的区分？ 我現在的問題是,我們公司用的是85度,85%的溼度測試24小時,但是內部沒有規範,也不知道此測試通過後,代表此產品所對應代表的壽命是多少?我是做PCB的.
緊急求助!!!感謝各位! THANKYOU 学习中谢谢