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楼主: Allen_jje

两种卓越的可靠性技术——HALT & ALT

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发表于 2012-11-5 09:19:05 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2012-11-7 15:56:08 | 显示全部楼层
,顶顶,积分不够是下不了是吧?
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发表于 2012-11-9 21:12:14 | 显示全部楼层
我想知道的是电子产品试验应该怎么设计,哪里可以找到相应的资料啊
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发表于 2013-9-18 14:44:59 | 显示全部楼层
看到版主给的链接了
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发表于 2015-9-11 13:32:53 | 显示全部楼层
admin发表于2009-12-2108:40
高加速寿命试验(HALT)和加速寿命试验(ALT)http://www.kekaoxing.com/test/ALT/200708/816.html

谢谢
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发表于 2015-11-30 13:25:58 | 显示全部楼层
等级太低,无法下载,悲剧!
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发表于 2015-11-30 13:57:51 | 显示全部楼层
阅读权限很高啊,我们新手都看不了
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发表于 2015-11-30 23:08:23 | 显示全部楼层
手機行業現在也開始搞這個啦,對器件類和班級故障的篩選和識別幫助挺大,就是時間上浪費較多,老闆肯定要其中,成本和質量。
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