假如对n个相同的系统(硬件或软件)进行测试,他们的失效时间
分别是t1,t2,...,tn,则MTTF定义为
n
MTTF=1/n∑ti
i=1
电子产品做可靠性预计的时候,那些数据的来源是根据指数分布进行的,但是一般产品都是按照威布尔分布进行分析的 这里的高手太厉害了,mil-hdbk-338B有一千四百多页,还都是英文的,居然都能看得那么透彻,佩服佩服,看来我太落后了! 你可以先考虑先看中文版的,然后再去看英文版的,这样比较快呵呵
MIL-HDBK-338
是啊,可以先看看中文版的,那样理解快点。MIL-HDBK-338中文版
MIL-HDBK-338中文版之二
点击下载英文版:Mil-Hdbk-338B.pdf 谢谢各位高手,已经下了中文版,正在潜心修炼,不懂得地方以后再来向大家讨教 好东西呀。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。 JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
对于印制板的Ea推荐值为0.7eV,这个是在哪里可以查到,我们也想做这样的测试,但是一直查不到Ea怎么取值,请版主赐教 版主知不知道VDMOS器件的激活能是多少,指的是中小功率的VDMOS器件 那有沒有哪位牛人有做過系統及別的Ea?比如果是multidie的overallEa?
只是很弱弱的問問!當然,我們可以將器件分開成好幾個部分:焊球,PCB基版,silicondevice等等來看不同的Ea..............
v_v|||| 最近也是有客户来咨询有关塑料的加速试验的,但对于Ea的选择不是很清楚。哪位高人可否告知塑料的Ea是多少呀?有可查询的资料标准吗?