zouyoupeng 发表于 2010-9-16 20:10:27

芯片辅助可测试新设计DFT

在商用芯片中，当前是否有内置温度、电流、电压检测的芯片呀，非常感谢！

前期就个人在工作中就遇到了一些困惑，特别是在芯片样片验证阶段，想要调整芯片的温度做温度局部应力，简直是太麻烦了，温度监控通常采用点温计、红外热像仪，或者是传统的热电偶，总之测试实在是太麻烦啦；还有调压验证业务必不可少的内容，还要在芯片管脚末端调整测量，前期还出现疏忽导致验证版过流烧坏单板的。。。。，电流测试也是不可缺少的一部分，主要用于子电源功耗余量参考，反正基础验证测试工作痛苦ing；若芯片内置相关检测，工作可以轻松N多啦^_^

zouyoupeng 发表于 2010-9-16 20:12:05

温度检测，同时有助于监控芯片或调整环境温度，让芯片持续有效工作在健康的环境中，有助于芯片持续稳定工作，减慢芯片的热应力老化损伤

deadxiaoh 发表于 2010-9-17 08:35:21

红外热像仪还没见过实物、、、多少钱一个？？

zouyoupeng 发表于 2010-9-17 11:25:27

20万左右，现在应用较普及，例如芯片的热点失效分析，短路热点追踪，电力系统热点监控等

zouyoupeng 发表于 2010-9-17 11:27:17

网上搜搜红外热像仪便知，用处方便，适用于非接触性热点分析，

zqmly 发表于 2010-9-17 16:04:44

我也没有见过红外热像仪

zouyoupeng 发表于 2010-9-17 16:36:44

网上很多地，耐心搜搜即是

zouyoupeng 发表于 2010-9-19 09:04:39

各位江湖大侠多多指点一下呀

kekaoxing777 发表于 2010-10-8 15:19:15

不懂，帮lz顶

zouyoupeng 发表于 2010-10-15 08:19:46

各位多来顶一下呀
页: [1]
查看完整版本: 芯片辅助可测试新设计DFT