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可靠性报告 求达疑

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发表于 2016-4-27 17:33:03 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近尝试做可靠性预计,碰到微芯的可靠性报告,求解释.附件如下.






关于报告内测试的解释如下:
DynamicLifeTest
TheDynamiclifetest(DLT)alsoknownastheHighTemperatureOperatingLife(HTOL)isperformedtodeterminethereliabilityofdevicessubjectedtospecificconditionsoveranextendedperiodsoftime.Devicesareexercisedatthemaximumdatasheetoperatingvoltage.Inaddition,anelevatedtemperatureandfunctionalsignalsareusedtoexercisethedeviceinamannersimilartousersystems.Devicesaresubjectedto150Cfor96hours(infant)and408hours(Longterm).Theactualfailurerateexperiencedcouldbeconsiderablylessthanthatcalculatediflowerdevicetemperaturesoccurintheapplicationboard.

DynamicLifeProcessBreakout
TheDynamiclifetest(DLT)alsoknownastheHighTemperatureOperatingLife(HTOL)isperformedtodeterminethereliabilityofdevicessubjectedtospecificconditionsoveranextendedperiodsoftime.Devicesareexercisedatthemaximumdatasheetoperatingvoltage.Inaddition,anelevatedtemperatureandfunctionalsignalsareusedtoexercisethedeviceinamannersimilartousersystems.Devicesaresubjectedto150Cfor96hours(infant)and408hours(Longterm).Theactualfailurerateexperiencedcouldbeconsiderablylessthanthatcalculatediflowerdevicetemperaturesoccurintheapplicationboard.

RetentionBake
Datastorageinapplicabledevicesisdonebydevelopingachargeonthefloatinggatestructureinthememorycell.Chargelossinthiscellstructureresultsinaconversionofzeroestoones.A150°CtemperatureisusedtoacceleratechargelossinthememorycellandmeasurethedataretentionontheEPROMandEEPROMportionsofthecircuitry.Devicessubjectedto175°Caretestedat96hoursand504hours.Thisbakeaccelerateschargelossinthememorycell,and96hoursat175°Cisequivalenttogreaterthan250yearsinthefieldat55°C.Theactualfailurerateexperiencedcouldbeconsiderablylessthanthatcalculatediflowerdevicetemperaturesoccurintheapplicationboard.

疑问是报告内的数据如何算出来的,例如用minitab.

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发表于 2016-4-27 20:14:22 | 显示全部楼层
1、这不是可靠性预计,是产品寿命试验。是以抽样试验来推断批次产品寿命;
2、数据计算是基于阿列纽斯公式,以置信度60%,计算出MTTF。
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 楼主| 发表于 2016-5-3 14:47:30 | 显示全部楼层
这个是供应商给的MTTF报告,我苦逼在于如何根据408PCS运行96h,和303PCS运行408来计算出在60%置信度下是26FIT。
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 楼主| 发表于 2016-5-3 14:48:08 | 显示全部楼层
sunjj发表于2016-4-2720:14
1、这不是可靠性预计,是产品寿命试验。是以抽样试验来推断批次产品寿命;
2、数据计算是基于阿列纽斯公式...

求解计算过程,SUNJJ
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发表于 2016-5-4 10:41:22 | 显示全部楼层
D:\SJJ_use\Sjj_2\未命名1
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发表于 2016-5-4 10:42:10 | 显示全部楼层
D:\SJJ_use\Sjj_2
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 楼主| 发表于 2016-5-5 22:31:55 | 显示全部楼层

SUNJJ老大,这个是个啥?
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发表于 2016-5-6 09:30:44 | 显示全部楼层

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