Sony可靠性标准疑问交流 latch-up

wonderlee

各位大侠，
看了tomson-y的SONY可靠性文件，想和大家交流下latch-up的问题。
latch-up对应的中文到底是什么现在还不敢确定，但看了下面的具体要求后，lacth-up应该是：
latch-up
1)Pulsecurrentinjectionmethod
脉冲电流注入法
Applythesupplyvoltagetothesample,fixtheinputpinstohighorlow,
leavetheoutputpinsopen,andthenapplytheprescribedconstant
currentpulsetothetestpin.
固定样品的电压电压输入脚，留空输出脚，加连续的规定电流脉冲给样品测试脚。
Measurethesupplycurrentfluctuationatthistimetodeterminewhether
latch-uphasoccurred.
测量此时的提供的电流波动来确定是否有latch-up产生
2)Powersupplyovervoltagemethod
输入过电压法
Applythesupplyvoltagetothesample,fixtheinputpinstohighorlow,
leavetheoutputpinsopen,andthenraisethesupplyvoltagevaluetothe
triggerpulsevoltagevalue.
固定样品的电压电压输入脚，留空输出脚，提高电压输入脚的电压值到触发脉冲电压值。[
Measurethesupplycurrentfluctuationatthistimetodeterminewhether
latch-uphasoccurred.
测量此时的提供的电流波动来确定是否有latch-up产生。

由以上可以大概确定，latch-up是一个电流，某个元件货系统一个开路回路时外加脉冲电流或过电压后的电流，与漏电流有点类似。
不知道这种认识是否OK?

管理员补充：引用资料，SONY/Hitachi公司的可靠性资料

wonderlee

希望大家都交流下，中间有些别字，是由于打拼音时候选择错误所至。

yarrowago

不是那个叫”闩锁效应“的东东吗？偶没看文章，瞎说的o