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电子元器件失效分析技术
基本概念和失效分析技术 第一部分 失效的概念 失效定义 1特性剧烈或缓慢变化 2不能正常工作 3不能自愈 失效种类 1致命性失效:如过电应力损伤 2缓慢退化:如MESFET的IDSS下降 3间歇失效:如塑封器件随温度变化间歇失效 失效物理模型 应力-强度模型 失效原因:应力>强度 强度随时间缓慢减小 如:过电应力(EOS)、静电放电(ESD)、闩锁(latchup) 应力-时间模型(反应论模…... alvinway- 0
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谁有汽车方面的DFMEA模板?
现在要做一份铝窗DFMEA.. 送样都合格了,其他ISIR资料也都齐全..就差个DFMEA了...以前我们公司都只做PFMEA,因为产品都是客户设计,我们只负责模具及生产供应...这次铝窗我们自己设计,所以客户要求我们提供PFMEA..而之前都没做过..可否提供一份汽车方面的DFMEA模板??最好是铝窗方面的..谢谢大家了. [[i]本帖最后由smqppkf于2008-6-1810:02编辑[/i…... smqppkf- 0
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關於電解電容器的失效問題
最近在做HALT試驗和RMA機台有出現兩種關於電解電容器失效的案例: 1.在進行HALT試驗時出現POWER在低溫下無法啟動,經分析為PWMICVCC供電腳濾波電容22UF/50VPROCON105度失效所致,更換為其它家電容即OK,但廠家在模擬環境做靜態測試時電容的所有參數均合格,找不出問題所在; 2.RMA返廠機台AC大整流濾波電容150UF/450VHEC105度出現鼓頂現象,不良極高,實測…... fanweipin- 0
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请问各位高人,谁有FHA(故障危险性分析)的资料?
做适航审定方面的课题,需要FHA方面的资料,不过发现很难找。希望各位高人可以帮忙 小弟不胜感激:):)... wangdayuncauc- 0
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为什么很多人总是来问规范?
现在看到很多情况就是把可靠性总结为测试,很多人都希望给出了什么测试标准去测试,就万事大吉。 没有人去问为什么这样做?如果现在我把nokia手机的测试规范给一家国内手机厂商,你认为以后它生产 的手机就可以达到nokia的水准吗?简直是做梦。大家醒醒吧~~~~~如果可靠性就是测试,那么它也太好做了... wu8295- 0
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半导体器件芯片失效分析 芯片内部分层,孔洞气泡失效分析
半导体器件芯片内部失效分析芯片内部分层,孔洞气泡失效分析C-SAM的叫法很多有,扫描声波显微镜或声扫描显微镜或扫描声学显微镜或超声波扫描显微镜(Scanningacousticmicroscope) 总概c-sam(sat)测试。 其主要是针对半导体器件,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2.内部裂纹.3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等.如…... wu_kh- 0
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失效分析技术及经典案例 第一二讲
失效分析技术及经典案例 失效分析技术及经典案例第一讲失效分析概论 失效分析技术及经典案例第二讲分析技术与设备 [url=https://www.kekaoxing.com/club/thread-5290-1-1.html]失效分析技术及经典案例第三讲经典案例[/url] 中国赛宝实验室 可靠性研究分析中心 李少平... fu8197- 0
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半导体器件芯片内部失效分析芯片内部分层,孔洞气泡失效分析
C-SAM的叫法很多有,扫描声波显微镜或声扫描显微镜或扫描声学显微镜或[color=Red]超声波扫描显微镜(Scanningacousticmicroscope) 总概c-sam(sat)测试。 其主要是针对半导体器件,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2.内部裂纹.3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等.如果对分析芯片封装中的应用.感兴趣的…... wu_kh- 0
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谁有DFMEA的实际模板和例子
国外的客户要求提供DFMEA,我是看过,但是没有自己写过。请教各位有没有类似的实际的例子,让我参考下。谢谢了。 DFMEA:设计阶段的潜在失效模式及后果分析,旨在确保设计方案的高度可靠性,避免设计缺陷。... bushzhang- 0
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SAT(C-SAM) 超声波扫描显微镜与XRAY区别
[url=http://tw.acesuppliers.com/company/offerdetail_1815.html][color=Red]SAT (C-SAM) 超声波扫描显微镜[/url](扫描频率最高可以达到2G).扫描分辨率0.1微米.最小扫描范围为0.25微米*0.25微米.其主要是针对半导体器件,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉…... wu_kh- 0
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可靠性试验方法—电子产品
电子产品的可靠性试验 技术分类:测试与测量|2006-07-11 来源:中国测控网 为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面: 1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况; 2.生产阶段为监控生产过程提供信息; 3.对定型产品进行可靠性鉴定或验收; 4.暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;…... SZ腾辉-Ryan- 0
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浴盆曲线详解—产品的故障率分析
产品故障率 随着科学技术的不断进步和现代化生产的飞速发展,产品的可靠性逐渐被各个企业以及终端消费者所重视,中国大概90年代才逐渐意识到产品的可靠性检测,比如在此之前更多注重产品的功能或者能否使用,往往一些产品设备从买入就开始维修不断。而现在环境测试以及可靠试验逐渐引入到各个行业来保证产品的质量和寿命!其作用越来越明显。产品在使用过程中,必然会产生不同程度的老化、磨损、疲劳、变形或损伤,随着时间的延…... SZ腾辉-Ryan- 0
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预防电容破裂失效指南
文章阐述了AVX公司FlexiTermTM产品的主要好处和特性,一个软的终端系统通过减轻施加在陶瓷上的机械力来使这类失效最小化。 [quote]AVX多层陶瓷电容FLEXITERMTM:预防电容破裂失效指南 作者:MarkStewart陶瓷电容产品市场技术部经理 AVX责任有限公司Coleraine,北爱尔兰, 摘要 MLCC电容的巨大普及性与可选择性技术的比较,首先是他们出色的可靠性记录和低成本…... xlsabycb- 0
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IC可靠性,系统可靠性分析
:loveliness: [quote] IC产品的质量与可靠性测试(ICQuality&ReliabilityTest)质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是 IC产品的生命。 质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC是否符合各项性能指标的问题;可靠性()的要求, Reliability一个产品生命周期有多长,…... xlsabycb- 0
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有没有人研究电磁泄漏的,讨论一下
最近,突然发现EMC的一个小领域——防电磁泄漏,在目前悄然兴起,一些客户开始关心通信设备的电磁泄漏,过去就看一些学院派的大师们在论文里说,研究和理论都停留在试验或是研究阶段。 现在,在国内也开始有不少客服开始关心信息安全这个问题,也就把电磁泄漏这个环节推到了前台。 目前,普通产品在设计之初都未考虑过电磁泄漏,对于大多是产品来说显然不相适应,由于客户需求,我尝试着去做后期的修补,才发现这个问题真是越…... pine111- 0
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Semiconductor Reliability analysis
SemiconductorReliabilityanalysis [[i]本帖最后由arvinghchen于2008-4-822:10编辑[/i]]... arvinghchen- 0
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电磁式振动机正弦振动算法 有能帮忙的吗?
小弟是新手,在振动实验中用的软件是DACTRONCONTRONSHAKER6.22版的软件. 与原来的版本不一样的就是不能低频定位移,高频定加速度,只能用笔自己算breakpoint转折点了 有哪位大吓能不能提供下公式啊! 比如条件是: 频率加速度g2/hz位移mm(p-p) 5HZ1 100HZ1 那么条件设出来就在100HZ上面应该有个频率点,想请问那个点如何算出来? 本人E-MAIL:zjl…... zjleader- 0
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