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隐藏支付积分塑封三端稳压器失效分析案例
塑封三端稳压器失效分析案例1、失效现象失效品为塑封三端稳压器。生产好的成品测试合格后入库，在正常环境下存放一个月后，重新测试，发现有10%左右的样品失效，失效模式多为输出电压不在合格范围内。2、失效分析2．1、声学扫描声学扫描表明失效样品铜基板与封装塑料界面分层，芯片与封装塑料界面分层。左：从塑料到芯片；芯片区域中，白色为界面右：从塑料到基板；基板区域中，白色为界面正正常，红色为界面分层。2．…...- 0
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电子组装产品的失效分析
这是你在电子组装产品失效分析之前、之中和之后所需要知道的知识 参加过关于失效情况讨论的人都知道，一个客观的、独立的失效分析的价值是多么重要。失效可能由一系列的原因造成：设计的缺陷、不好的材料质量、制造问题、运输或储藏条件不当、在操作时的过荷等。大多数公司缺乏深入调查的设备，而这往往是解决某些问题所需要的。没有对失效进行正确分析，采取纠正措施的努力可能是无用的，或者产生事与愿违的结果。 失效分析…...- 0
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进行失效分析的基本条件
2.7進行失效分析的基本條件 2.7.1專業人員和分析小組 要有失效分析專業人員和分析小組。 失效分析專業人員應該具有的素質是：熟悉被分析失效件的結構(參考 產品結構圖)、製造工藝、製造標準、產品性能；有操作失效分析設備的 能力；有使用產品的常識；有豐富的想像力和嚴謹的工作作風；具有關 於失效分析的堅實理論知識和豐富實踐經驗。 在失效分析中，涉及和需要的自然科學技術知識極其廣泛。因失效分 析涉…...- 0
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失效分析的量测系统与资料收集
2.8量測系統與資料收集量測系統是產品失效的一個風險來源，資料收集是進行失效分析的條件之一。在正常生產與失效分析時，我們會應用合適的儀器與量測方法對產品進行一系列的測試。這就構成了量測系統。量測結果所反映的一些數值和測試時不尋常的環境事件以及其他觀察到的情況就是我們所要的資料。所以，為了使產品正確被評估或資料取得的準確性與方便性，需留意以下幾點：被測量的參數是什麼？為什麼？瞭解你試圖評估的是什麼，…...- 0
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功率器件热结构缺陷分析
C－SAN（声学扫描）、X－RAY分析应用（一） ——功率器件热结构缺陷分析 编写：李少平 功率器件工作时消耗电功率，并将电能率转变热能，功率器件产生的热功率等于消耗的电功率，如三极管的热功率为VCE×IC、场效应管的热功率为VDS×ID、三端稳压器的热功率为（Vi－Vo）×Io、整流二极管的热功率为VD×ID。 功率器件工作中产生的热通过芯片的烧结料——过渡片或陶瓷片（有的器件有此结构，有的器件…...- 0
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失效分析人員應具備的素質
2.2.3失效分析人員應具備的素質Bel多年的生產經驗表明，失效分析涉及的學科很多。它以許多學科和技術為基礎並不斷發展，從電子技術到機械設計，從管理到電腦。最常見如下圖所示： [url]http://www.[/url]可靠性.com 圖：失效分析涉及到的主要學科由上圖可看出，失效分析人員應具備多方面的學科知識。除此之外，還應具備以下素質：①.具有堅持到底的毅力，能夠知難而進，對失效原因的分析…...- 0
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產品失效部位定位技術
2.3.2產品失效部位定位技術2.3.2.1外觀檢查技術外觀檢查通常採用目檢，可以直接用眼睛觀察或者用10~40倍的放大鏡或光學顯微鏡。外觀檢查的作用之一是驗證失效件與標準、規範的一致性。主要內容有：驗證失效件的標誌(產品代號、產品批號等)，材料(如針腳塗覆是鍍鎳還是鍍錫)，結構(如產品外殼類型是直插式還是扁平式，有否發光二極體)，工藝(如產品表面印字是移印還是鐳射印)等。外觀檢查的作用之二是…...- 0
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可能的失效原因和機理的假設及分析
2.4可能的失效原因和機理的假設及分析在作分析前，必須依據目前已掌握的資訊，已積累的經驗，對可能的失效原因和機理進行假設及分析。這樣做是為了明確工作方向，縮小懷疑範圍，以求制定切合實際的失效分析程式或方案，做到用時短、費用低、結論正確。一般地說，可能的失效原因存四大類，即失效件本質問題、誤篩問題、誤用問題和意外損傷。每一大類問題可以得分為多個小類。每個小類也許能假設出幾種失效機理。在做失效分析…...- 0
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失效模式和機理與生產年代、使用環境的關係
2.1.3.2失效模式和機理與生產年代、使用環境的關係：對於功能或型號相同的器件，不同年代的產品失效模式和機理是不同的。比如，上世紀50~60年代因半導體加工用的去離子水純度不夠，鈉離子玷污造成的器件漏電大的失效模式占失效總數的比例很高，此後，大約過了二十多年，因去離子水純度問題已經解決，納離子玷污造成的器件漏電大的失效模式明顯減少。又如，Bel某些有需要Molding的產品，以前產品內部使用…...- 0
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失效分析的一些原則與方法
2.2.2失效分析的一些原則與方法失效分析的基點或起點可以是一個Bobbin、一塊PCB板，也可以是一個完整的2X8PortsBelStack或OSIHIDGEN4最終產品。但制定分析程式的原則與方法可以大致相同。一些通用的原則如下：1.先方案後操作失效分析人員先靜下心，考慮出分析方案再動手。如果上來就碰這捌那地撬開ICM的MetalShield與分離內部的ToroidBase與ContactPi…...- 0
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BelFuse公司失效分析参考手册
BelFuse公司失效分析参考手册第1章概要1.1制定本手冊之目的BelFuse電子公司是一家總部設在美國專業生產高品質電子產品的大型跨國公司。公司主要設計、生產與銷售磁性產品、保險絲、延遲線、厚膜與ICM產品等。產品廣泛應用於網路、電訊、高速資料傳輸、電腦等領域、也應用於汽車與其他消費類電子市場。在多年研發、生產、銷售服務中，我們對發生失效的產品由外觀特徵、材質、工藝、電氣性能、系統功能、結…...- 0
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可靠性模型图 方框图RBD
[size=4]可靠性模型图中国可靠性网 可靠性模型包括[u]可靠性方框图[/u]和[u]可靠性数学模型 [/u]可靠性方框图(RBD-RELIABILITYBLOCKDIAGRAMS)通常用于表示系统的可靠性结构。RBD是一种简单地表示所有可能的功能结构以及故障的单元对系统功能影响的图形方法。可靠性框图通常由表示基本的系统组成单元的方框组成。方框图通常都有一个起点和一个终点。其中至少要有一条…...- 0
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Duane模型在斯特林制冷机研制过程中的应用
作者：武继华黄燕来自：中国电子科技集团公司第十六研究所，合肥，230043 摘要：介绍一种实用的可靠性增长模型-杜安(Duane)模型，并探讨如何运用该模型来分析、指导斯特林制冷机的可靠性增长试验，包括试验前的准备、试验数据的处理、曲线的绘制，以及如何对增长过程进行估计和监测。关键词：杜安模型、斯特林制冷机、可靠性增长试验1、引言 在可靠性过程中，…...- 0
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红外多光谱扫描仪在发射段的结构可靠性
宋文渊 史连艳 姜兴渭摘要 详细分析了某多光谱扫描仪结构特点、工作环境与受力情况，并根据航天器受载特点通过对G.莱希纳和B.贝尔契(德)提出的结构系统可靠性分析通用方法(以下简称G.B法)进行改进，建立了结构主体部分在发射阶段的可靠度数学模型，以一次二阶矩法为主要算法对红外扫描仪主体在发射阶段的结构可靠性进行了分析和评估。主题词 红外扫描仪，结构可靠性，可靠性分析。TheStructuralS…...- 0
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串行通讯系统电梯可靠性设计
摘要：介绍了电梯串行通讯系统可靠性设计的基本方法及硬件抗干扰措施，并对软件可靠性设计技术进行了初步探讨。 关键词：串行通讯可靠性抗干扰硬件软件 电梯工作现场往往存在大量的干扰源，电梯控制系统一旦因干扰而产生故障，很可能酿成严重的后果。因此，在电梯串行通讯系统的设计中，如何增强系统的抗干扰能力、提高系统工作的可靠性是一个不容忽视的重要内容。1可靠性的基本概念 可靠性是产品的质量指标。其定…...- 0
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