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隐藏支付积分HALT和HASS简介
第一章 HALT和HASS简介：新的质量和可靠性理论 伟大的思想总是受到传统陈旧思想的强烈抵触 － 爱因斯坦 1.1 简介 本章对高加速应力寿命实验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）进行简单介绍和讨论，并列举一些成功的例子加以说明。在过去的三十多年间，作者、作者负责咨询的客户以及参加研讨会的公司已经运用这些技术并取得成功。这种方法给这些公司带来了巨大的经济利益和技术优势，所以大部分这些公司都…...- 0
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浅谈环境与可靠性试验设备的使用与维护
浅谈环境与可靠性试验设备的使用与维护 江苏省电子产品监督检验所 唐 永 革 [摘 要]：本文对目前环境试验设备的现状、环境试验设备的正确使用及环境试验设备的一般维护进行 了阐述。目的是帮助广大环境试验人员对环境试验设备的正确使用有个初步了解。 [关键词]：环境试验 设备 使用 维护 环境试验设备是在试验室内用人工方法模拟一种或多种严酷环境的组合试 验设备，是研制、开发新产品和检验产品质量性能的环境…...- 0
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可靠性分配-目标可行性法
在产品的设计阶段，就要把要求的MTBF“设计进”产品里。当产品的结构复杂时，将可靠性指标自上而下逐级地分配到各个简单的结构。它是一个由整体到局部，由上到下的分解过程，即将整个系统的可靠性要求转换为每一个分系统的可靠性要求.这个过程就叫做可靠性分配。可靠性分配有许多方法，如等分配法、AGREE分配法、航…...- 0
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可靠性分配-等分配法
可靠性分配 在产品的设计阶段，就要把要求的MTBF“设计进”产品里。当产品的结构复杂时，将可靠性指标自上而下逐级地分配到各个简单的结构。它是一个由整体到局部，由上到下的分解过程，即将整个系统的可靠性要求转换为每一个分系统的可靠性要求.这个过程就叫做可靠性分配。可靠性分配有许多方法，如等分配法、AGREE分配法、航空无线电公司分配法、目标可行性法、最小工作量算法和动态规划法等…...- 0
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一本Halt hass 的翻译书–前言
前言 附件下载：https://www.kekaoxing.com/d/uploads/book/Halt_Hass_cn.pdf 建立一种新的规则总是漫长而艰辛的，不由的想到一个有名的故事里的一段话： 在接受的难度上、执行的艰险程度和成功的不确定度上没有什么比得上尝试引入一种新的概念更高的…...- 0
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可靠性模型图 方框图RBD
可靠性模型图 可靠性模型包括可靠性方框图和可靠性数学模型可靠性方框图(RBD-RELIABILITY BLOCK DIAGRAMS)通常用于表示系统的可靠性结构。RBD是一种简单地表示所有可能的功能结构以及故障的单元对系统功能影响的图形方法。可靠性框图通常由表示基本的系统组成单元的方框组成。方框图通常都有一个起点和一个终点。其中至少要有一条从起点到终点的路径是通的，且没…...- 0
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什么是HALT HASS试验
1、什么是HALT试验 HALT（Highly Accelerated Life Test）的全称是高加速寿命试验，是一种试验方法（思想），采用的环境应力比加速试验更加严酷。主要应用于产品开发阶段，它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来，从而为我们做设计改进，提升产品可靠性提供依据。 2、HALT的常用的概念 UDL -Upper Destruct Limit (temp and vib…...- 0
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用于可靠性试验的技术标准
对产品进行可靠性试验，根据试验的目的选用什么试验方法，选用什么试验条件，如何确定失效判据，如何选择抽样方式，最后对产品进行可靠性评价的结果符合什么可靠性等级，这在现有国内、国际上制定的各种可靠性技术标准上几乎都有明确规定。这说明对于电子元器件质量和可靠性水平，在国际上已有统一的标准。对于电子元器件产品适用于民用、工业用、军用和宇航用都有相应的标准或相应的等级要求。这为我们…...- 0
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可靠性试验的抽样检查
在可靠性试验中，有许多试验是属于破坏性的，而且进行试验需要昂贵的设备，尤其是集成电路规模大，不可能100%进行试验。在这些情况下，势必要采取抽样检查。 抽样检查是指对批量生产的产品从一批产品中随机抽取一部分做样品进行试验，根据试验测试结果来判断整批产…...- 0
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可靠性试验的目的与内容
可靠性试验是评价产品可靠性水平的重要手段。目前把测定、验证、评价、分析等凡是为提高产品可靠性而进行的试验，统称为可靠性试验。可靠性试验是开展产品可靠性工作的重要环节。 可靠性试验一般是在产品的研究开发阶段和大规模生产阶段进行的。在研究开发阶段，可靠性试验主要用于评价设计质量、材料和工艺质量。在大规模生产阶段，可靠性试验的目的则是质量保证或定期考核管理。由于阶段不同，其目的和内容也不完…...- 0
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加速寿命试验的数据处理
根据加速寿命试验的结果数据，进行分析和处理，可以得到试验器件的可靠性分布参数。 如果电子元器件样品的失效机理符合Arrhenius模型的加速方程，则可在单对数坐标纸上画ti(0.5)～1/Ti直线，即将整理的1/T1、1/T2…1/Te数…...- 0
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加速寿命试验理论依据
电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理的反应有关。器件从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变化。在各种外界环境下，器件还会承受了各种热、电、机械应力，会使原来的化学物理反应加速，而其中温度应力对失效最为敏感。实践证明，当温度升高以后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加…...- 0
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苏州百得招聘可靠性工程师
美资企业，生产电动工具，现在招聘可靠性工程师，具体要求如下，有意者请发mail 到job.bdsz@bdk.com Requirements: -Bachelor degree in Electro-mechanical engineering, over 3 years working experience in product testing and quality assurance, pr…...- 0
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深圳华为招聘可靠性工程师
深圳华为招聘可靠性工程师 简历接收内部邮箱：ritti@163.com 工作地点：深圳(华为） 职责：在产品概念计划阶段，负责产品环境规格分析和制订，负责有关环境的设计方案制订评审；在产品验证测试阶段，负责制订环境可靠性测试方案，完成产品环境与可靠性测试任务；进行有关环境可靠性试验规范和试验方法研究；进行环境可靠性测试问题的定位分析研究，总结技术案例；进行产品环境设计技术方法和工具的应…...- 0
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