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想請教AEC-Q100 中的HTOL中的註解
[i=s] 本帖最后由 yanru0216 于 2017-11-14 16:39 编辑 [/i] 各位大大好,請問AEC Q100中的HTOL的註解2(此註解VER H版本才有） 2) Tj may be used instead of Ta when performing HTOL provided that Tj of the device under HTOL conditions is e…- 1.6k
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HTOL 寿命计算方式
请教各位，寿命试验中（主要考虑温度加速），最终的寿命计算是否会考虑样本量，以下是公司的计算： 总试验时间T=样品数×试验时间×加速系数 元器件的失效数r=0取置信度水平为90%,那么失效率：λ=Nc/T MTTF=1/λ 那么平均寿命时间是考虑了样本量的，如果测试125°，1000小时，77个样品，寿命会达290年左右。 但是我看了JESD47I的描述： a)HTOL-Thedurationlis…- 13.3k
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