可靠性论坛(旧) › 可靠性试验 › 加速寿命测试时间的推算

xwolf 发表于 2017-8-29 14:34:33

标称值之上应该留有安全裕度的，进行加速寿命试验应该没问题。

笑对人生 发表于 2017-8-30 09:48:53

感谢，学习下:)

哈哈宋 发表于 2017-9-1 17:14:52

好东西学习一下谢谢！

deserthit 发表于 2017-9-4 15:06:37

好好学习一下，谢谢论坛的大牛们。

yesterday 发表于 2018-2-27 16:00:37

又学习了，谢谢！回去消化一下！

Ben李 发表于 2018-8-26 22:09:07

学习中

MS周 发表于 2018-9-7 14:17:33

执笔画晴 发表于 2016-1-27 17:31
这个其实是根据单侧置信区间MTBF公式推算出来的，MTBF下限=2T/｛X2[（1-c），（2r+2）]｝,其中c为置信度 ...

谢谢您的解析，学习了。

seedburgeon 发表于 2018-9-25 01:56:21

ylsfd2007 发表于 2011-10-13 13:28
小弟有个问题想请教。我司生产的是射频模块（模块由很多的零散的元器件组成，这些元器件有可能在使用过程中 ...

请问您的问题解决了吗？我有同样疑问

seedburgeon 发表于 2018-9-25 01:56:33

ylsfd2007 发表于 2011-10-13 13:28
小弟有个问题想请教。我司生产的是射频模块（模块由很多的零散的元器件组成，这些元器件有可能在使用过程中 ...

请问您的问题解决了吗？我有同样疑问

joyce520 发表于 2018-12-3 19:23:57

谢谢楼主的分享。

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