高温高湿之后需要烘烤再测?有这规矩吗?
本帖最后由jinjun1982于2012-1-1415:42编辑最近做了个项目,样品在85/85下死了一大批,做的是激光器。美国研发那边竟然告诉我们实验完成后不能直接拿出来降温,而要先把炉子的湿度在2小时内降到0,再关在炉子里从85度降到室温。这么一来不就把湿气全部烤掉了么,这完全颠覆了我以前做85/85的操作流程啊,JEDEC要求高温高湿之后需要48小时内测试完,势必要求的是保留期间上的潮气。
不知道大家有没有听过类似要求?或者大家做高温高湿试验后拿出样品是怎么操作的?给小弟指一条明路。谢谢啊。 我们这边做完高温高湿后,都后烤下箱,去湿气 既然是要做高温高湿的实验,又把湿气烘掉,这不是损失了实验效果了? 其实我个人认为高温高湿的目的主要是测试绝缘阻抗的。
如果已经发生电子迁徙短路或断路,在常温下也是能测试出来的。
高温高湿的环境主要是有利于电子迁徙生长的环境。
如果不能在线实时检测,直接拿出来测试什么环境都无所谓吧,若是失败就是烘干也是会失败的! 楼上说的有理,再则不管什么产品做高温高湿,实验完成都要恢复到室温,(常态)不清楚的可以看看标准都是这样定义的,初始、中间过程、结束均要监测~ 要先降湿度,再降温度,否则容易凝露,这是双85实验必须规避的。 试验失效后,首先要分析失效的机理,再进行判断。 之前我们做了一个针对pcb电迁移的高温高湿的试验,试验完了2h测试
绝缘电阻时很多不合格,但常温放置24h后再测就只有很少的不合格。
这说明湿气对绝缘电阻影响很大。 之前我们做了一个针对pcb电迁移的高温高湿的试验,试验完了2h测试
绝缘电阻时很多不合格,但常温放置24h后...
frankabc发表于2012-2-316:37http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
这说明你们pcb设计还是有问题。 高温高湿后,都烤下箱,去湿气
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